APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Bizyukov, A., Bizyukov, I., Girka, O., Sereda, K., Sleptsov, V., Gutkin, M., & Mishin, S. (2011). Ion beam system for nanotrimming of functional microelectronics layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Bizyukov, A.A, I.A Bizyukov, O.I Girka, K.N Sereda, V.V Sleptsov, M. Gutkin, und S. Mishin. Ion Beam System for Nanotrimming of Functional Microelectronics Layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.

MLA-Zitierstil (8. Ausg.)

Bizyukov, A.A, et al. Ion Beam System for Nanotrimming of Functional Microelectronics Layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.