Стиль цитування APA (7-ме видання)

Bizyukov, A., Bizyukov, I., Girka, O., Sereda, K., Sleptsov, V., Gutkin, M., & Mishin, S. (2011). Ion beam system for nanotrimming of functional microelectronics layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Bizyukov, A.A, I.A Bizyukov, O.I Girka, K.N Sereda, V.V Sleptsov, M. Gutkin, та S. Mishin. Ion Beam System for Nanotrimming of Functional Microelectronics Layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Bizyukov, A.A, et al. Ion Beam System for Nanotrimming of Functional Microelectronics Layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.