Современные возможности обновления аналитического оборудования для эмиссионного спектрального анализа

Рассмотрены возможности усовершенствования и модернизации эмиссионных фотоэлектрических спектрометров производства Ленинградского оптико-механического объединения. Показана перспективность замены старых электронно-регистрирующих устройств контроллером многоканальных фотометрических систем с системой...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Современная электрометаллургия
Дата:2005
Автори: Грыцкив, Я.П., Газнюк, Ю.С., Неделько, М.С., Кривко, В.И.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України 2005
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/95219
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Современные возможности обновления аналитического оборудования для эмиссионного спектрального анализа / Я.П. Грыцкив, Ю.С. Газнюк, М.С. Неделько, В.И. Кривко // Современная электрометаллургия. — 2005. — № 2 (79). — С. 48-51. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Рассмотрены возможности усовершенствования и модернизации эмиссионных фотоэлектрических спектрометров производства Ленинградского оптико-механического объединения. Показана перспективность замены старых электронно-регистрирующих устройств контроллером многоканальных фотометрических систем с системой компьютерной обработки данных. Продемонстрированы преимущества модернизированных спектрометров и особенности их работы с программным обеспечением. The possibilities of upgrading and modification of emission photoelectric spectrometers of production of Optical-Mechanical Works (St.-Petersburg) are shown. The prospects in replacement of the old electron-recording devices by a controller of multi-channel photometric systems and a system of computer processing of data are shown and advantages of updated spectrometers and specifics of their operation with a software are demonstrated.
ISSN:0233-7681