Михайлов, О., Терехов, П., Кондаков, А., Муратов, Д., & Хабибуллин, А. (2004). Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жесткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле. Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Михайлов, О.В, П.В Терехов, А.В Кондаков, Д.Ш Муратов, та А.С Хабибуллин. Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жесткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле. Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України, 2004.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Михайлов, О.В, et al. Повышение чувствительности регистрирующих материалов к жесткому излучению и снижение времени их экспозиции в рентгенодефектоскопическом контроле. Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України, 2004.