Евич, Н., & Прокопенко, Ю. (2010). Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности. Радиофизика и радиоастрономия.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Евич, Н.Л, und Ю.В Прокопенко. "Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности." Радиофизика и радиоастрономия 2010.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Евич, Н.Л, und Ю.В Прокопенко. "Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности." Радиофизика и радиоастрономия, 2010.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.