Евич, Н., & Прокопенко, Ю. (2010). Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности. Радиофизика и радиоастрономия.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Евич, Н.Л, та Ю.В Прокопенко. "Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности." Радиофизика и радиоастрономия 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Евич, Н.Л, та Ю.В Прокопенко. "Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности." Радиофизика и радиоастрономия, 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.