Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности

• Published in: Радиофизика и радиоастрономия
• Date: 2010
• Main Authors: Евич, Н.Л., Прокопенко, Ю.В.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Радіоастрономічний інститут НАН України 2010
• Subjects: Прикладные аспекты радиофизики и электроники
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Микроволновой метод определения толщин диэлектрических
 материалов с использованием излучателя со сканированием
 диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных
 материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве.
 В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического
 волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової
 метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці
 або у вільному просторі. Як випромінювач
 використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична
 пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave
 metrology for determination of thicknesses
 of flat layers of nonmagnetic dielectric materials
 placed on a metal substrate or in free space are
 considered. As a radiator, a bilateral short-circuited
 fragment of dielectric waveguide with interconnecting
 dielectric plate is used. Error estimates
 in determination of layer thickness and permittivity
 are given.