Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности

• Veröffentlicht in: Радиофизика и радиоастрономия
• Datum: 2010
• Hauptverfasser: Евич, Н.Л., Прокопенко, Ю.В.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Радіоастрономічний інститут НАН України 2010
• Schlagworte: Прикладные аспекты радиофизики и электроники
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці або у вільному просторі. Як випромінювач використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given.