Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных
 материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве.
 В качестве излучателя ис...
Saved in:
| Published in: | Радиофизика и радиоастрономия |
|---|---|
| Date: | 2010 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Радіоастрономічний інститут НАН України
2010
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических
 материалов с использованием излучателя со сканированием
 диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862739028945666048 |
|---|---|
| author | Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. |
| author_facet | Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. |
| citation_txt | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических
 материалов с использованием излучателя со сканированием
 диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Радиофизика и радиоастрономия |
| description | Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных
материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве.
В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического
волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя
Розглядаються можливості мікрохвильової
метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці
або у вільному просторі. Як випромінювач
використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична
пластина.
Possibilities of millimeter wavelength microwave
metrology for determination of thicknesses
of flat layers of nonmagnetic dielectric materials
placed on a metal substrate or in free space are
considered. As a radiator, a bilateral short-circuited
fragment of dielectric waveguide with interconnecting
dielectric plate is used. Error estimates
in determination of layer thickness and permittivity
are given.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:06:35Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98189 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-9636 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T20:06:35Z |
| publishDate | 2010 |
| publisher | Радіоастрономічний інститут НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. 2016-04-10T13:49:13Z 2016-04-10T13:49:13Z 2010 Микроволновой метод определения толщин диэлектрических
 материалов с использованием излучателя со сканированием
 диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. 1027-9636 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189 621.371 Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных
 материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве.
 В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического
 волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової
 метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці
 або у вільному просторі. Як випромінювач
 використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична
 пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave
 metrology for determination of thicknesses
 of flat layers of nonmagnetic dielectric materials
 placed on a metal substrate or in free space are
 considered. As a radiator, a bilateral short-circuited
 fragment of dielectric waveguide with interconnecting
 dielectric plate is used. Error estimates
 in determination of layer thickness and permittivity
 are given. ru Радіоастрономічний інститут НАН України Радиофизика и радиоастрономия Прикладные аспекты радиофизики и электроники Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности Мікрохвильовий метод визначення товщини діелектричних матеріалів із використанням випромінювача зі скануваннямдіаграмою спрямованості Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator Article published earlier |
| spellingShingle | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. Прикладные аспекты радиофизики и электроники |
| title | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_alt | Мікрохвильовий метод визначення товщини діелектричних матеріалів із використанням випромінювача зі скануваннямдіаграмою спрямованості Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| title_full | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_fullStr | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_full_unstemmed | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_short | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_sort | микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| topic | Прикладные аспекты радиофизики и электроники |
| topic_facet | Прикладные аспекты радиофизики и электроники |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189 |
| work_keys_str_mv | AT evičnl mikrovolnovoimetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammoinapravlennosti AT prokopenkoûv mikrovolnovoimetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammoinapravlennosti AT evičnl míkrohvilʹoviimetodviznačennâtovŝinidíelektričnihmateríalívízvikoristannâmvipromínûvačazískanuvannâmdíagramoûsprâmovaností AT prokopenkoûv míkrohvilʹoviimetodviznačennâtovŝinidíelektričnihmateríalívízvikoristannâmvipromínûvačazískanuvannâmdíagramoûsprâmovaností AT evičnl microwavedeterminationmethodofthicknessesofdielectricmaterialsusingabeamscanningradiator AT prokopenkoûv microwavedeterminationmethodofthicknessesofdielectricmaterialsusingabeamscanningradiator |