Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухп...
Saved in:
| Published in: | Радиофизика и радиоастрономия |
|---|---|
| Date: | 2010 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Радіоастрономічний інститут НАН України
2010
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98189 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. 2016-04-10T13:49:13Z 2016-04-10T13:49:13Z 2010 Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. 1027-9636 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189 621.371 Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці або у вільному просторі. Як випромінювач використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given. ru Радіоастрономічний інститут НАН України Радиофизика и радиоастрономия Прикладные аспекты радиофизики и электроники Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности Мікрохвильовий метод визначення товщини діелектричних матеріалів із використанням випромінювача зі скануваннямдіаграмою спрямованості Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| spellingShingle |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. Прикладные аспекты радиофизики и электроники |
| title_short |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_full |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_fullStr |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_full_unstemmed |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| title_sort |
микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности |
| author |
Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. |
| author_facet |
Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. |
| topic |
Прикладные аспекты радиофизики и электроники |
| topic_facet |
Прикладные аспекты радиофизики и электроники |
| publishDate |
2010 |
| language |
Russian |
| container_title |
Радиофизика и радиоастрономия |
| publisher |
Радіоастрономічний інститут НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Мікрохвильовий метод визначення товщини діелектричних матеріалів із використанням випромінювача зі скануваннямдіаграмою спрямованості Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator |
| description |
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных
материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве.
В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического
волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя
Розглядаються можливості мікрохвильової
метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці
або у вільному просторі. Як випромінювач
використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична
пластина.
Possibilities of millimeter wavelength microwave
metrology for determination of thicknesses
of flat layers of nonmagnetic dielectric materials
placed on a metal substrate or in free space are
considered. As a radiator, a bilateral short-circuited
fragment of dielectric waveguide with interconnecting
dielectric plate is used. Error estimates
in determination of layer thickness and permittivity
are given.
|
| issn |
1027-9636 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189 |
| citation_txt |
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT evičnl mikrovolnovoimetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammoinapravlennosti AT prokopenkoûv mikrovolnovoimetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammoinapravlennosti AT evičnl míkrohvilʹoviimetodviznačennâtovŝinidíelektričnihmateríalívízvikoristannâmvipromínûvačazískanuvannâmdíagramoûsprâmovaností AT prokopenkoûv míkrohvilʹoviimetodviznačennâtovŝinidíelektričnihmateríalívízvikoristannâmvipromínûvačazískanuvannâmdíagramoûsprâmovaností AT evičnl microwavedeterminationmethodofthicknessesofdielectricmaterialsusingabeamscanningradiator AT prokopenkoûv microwavedeterminationmethodofthicknessesofdielectricmaterialsusingabeamscanningradiator |
| first_indexed |
2025-12-07T20:06:35Z |
| last_indexed |
2025-12-07T20:06:35Z |
| _version_ |
1850881338757873664 |