Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности - Евич, Н.Л.; Прокопенко, Ю.В. (Радиофизика и радиоастрономия, 2010)
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных
материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве.
В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического
волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової
метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці
або у вільному просторі. Як випромінювач
використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична
пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave
metrology for determination of thicknesses
of flat layers of nonmagnetic dielectric materials
placed on a metal substrate or in free space are
considered. As a radiator, a bilateral short-circuited
fragment of dielectric waveguide with interconnecting
dielectric plate is used. Error estimates
in determination of layer thickness and permittivity
are given.