Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности

• Published in: Радиофизика и радиоастрономия
• Date: 2010
• Main Authors: Евич, Н.Л., Прокопенко, Ю.В.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Радіоастрономічний інститут НАН України 2010
• Subjects: Прикладные аспекты радиофизики и электроники
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98189
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухп...