Механизм разрушения информации при наблюдении сквозь среду со случайными неоднородностями

• Published in: Радиофизика и радиоастрономия
• Date: 2012
• Main Authors: Корниенко, Ю.В., Скуратовский, С.И.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Радіоастрономічний інститут НАН України 2012
• Subjects: Радиоастрономия и астрофизика
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98247
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Механизм разрушения информации при наблюдении сквозь среду со случайными неоднородностями / Ю.В. Корниенко, С.И. Скуратовский // Радиофизика и радиоастрономия. — 2012. — Т. 17, № 1. — С. 39–48. — Бібліогр.: 22 назв. — рос.

Рассмотрены причины, вызывающие снижение качества изображения объекта при его наблюдении сквозь среду со случайными неоднородностями показателя преломления. Подробно изложен механизм разрушения информации под влиянием фазовых искажений. Проведен краткий обзор существующих методов достижения дифракционного предела разрешения инструмента, исследованы причины потери их эффективности при среднеквадратичном отклонении фазовых искажений 2π и более, а также предложен способ, позволяющий преодолеть это ограничение. Розглянуто причини, що призводять до зниження якостізображення об’єкту під час його спостереження крізь середовище з випадковими неоднорідностями показника заломлення. Детально викладено механізм руйнування інформації під впливом фазових спотворень. Виконано стислий огляд існуючих методів досягнення дифракційної межі розрізнення інструменту, досліджено причини втрати їх ефективності з середньоквадратичним відхиленням фазових спотворень 2π та більше, а такожзапропоновано спосіб, який дозволяє подолати це обмеження. The reasons for degrading the quality of an object image during its observation through a medium with randomly inhomogeneous refraction index are discussed. The information degradation mechanism impacted by phase distortions is described in detail. The earlier proposed methods for attaining diffraction limit of an instrument are briefly outlined. The reasons why the efficiency of such methods is lost in the mean-square deviation of phase distortions of 2π and more are studied. A method for overcoming this limitation is proposed.