Механизм разрушения информации при наблюдении сквозь среду со случайными неоднородностями

• Опубліковано в: : Радиофизика и радиоастрономия
• Дата: 2012
• Автори: Корниенко, Ю.В., Скуратовский, С.И.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Радіоастрономічний інститут НАН України 2012
• Теми: Радиоастрономия и астрофизика
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98247
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Механизм разрушения информации при наблюдении сквозь среду со случайными неоднородностями / Ю.В. Корниенко, С.И. Скуратовский // Радиофизика и радиоастрономия. — 2012. — Т. 17, № 1. — С. 39–48. — Бібліогр.: 22 назв. — рос.

Рассмотрены причины, вызывающие снижение качества изображения объекта при его наблюдении сквозь среду
 со случайными неоднородностями показателя преломления. Подробно изложен механизм разрушения информации
 под влиянием фазовых искажений. Проведен краткий обзор существующих методов достижения дифракционного
 предела разрешения инструмента, исследованы причины потери их эффективности при среднеквадратичном отклонении фазовых искажений 2π и более, а также предложен способ, позволяющий преодолеть это ограничение. Розглянуто причини, що призводять до зниження якостізображення об’єкту під час його спостереження крізь середовище з випадковими неоднорідностями показника заломлення.
 Детально викладено механізм руйнування інформації
 під впливом фазових спотворень. Виконано стислий огляд
 існуючих методів досягнення дифракційної межі розрізнення інструменту, досліджено причини втрати їх ефективності
 з середньоквадратичним відхиленням фазових спотворень
 2π та більше, а такожзапропоновано спосіб, який дозволяє
 подолати це обмеження. The reasons for degrading the quality of an object image during
 its observation through a medium with randomly inhomogeneous
 refraction index are discussed. The information degradation mechanism
 impacted by phase distortions is described in detail.
 The earlier proposed methods for attaining diffraction limit
 of an instrument are briefly outlined. The reasons why the efficiency
 of such methods is lost in the mean-square deviation
 of phase distortions of 2π and more are studied. A method
 for overcoming this limitation is proposed.