Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi

Приведены результаты исследований плавления и кристаллизации в слоистой пленочной системе висмут
 – германий, создаваемой в вакууме путем последовательной конденсации компонентов при испарении
 их из независимых источников. Показано, что температура плавления в указанной системе пони...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физическая инженерия поверхности
Date:2004
Main Authors: Богатыренко, С.И., Гладких, Н.Т., Дукаров, С.В., Крышталь, А.П.
Format: Article
Language:Russian
Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2004
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98384
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi / С.И. Богатыренко, Н.Т. Гладких, С.В. Дукаров, А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2004. — Т. 2, № 1-2. — С. 32–36. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862568653028851712
author Богатыренко, С.И.
Гладких, Н.Т.
Дукаров, С.В.
Крышталь, А.П.
author_facet Богатыренко, С.И.
Гладких, Н.Т.
Дукаров, С.В.
Крышталь, А.П.
citation_txt Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi / С.И. Богатыренко, Н.Т. Гладких, С.В. Дукаров, А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2004. — Т. 2, № 1-2. — С. 32–36. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физическая инженерия поверхности
description Приведены результаты исследований плавления и кристаллизации в слоистой пленочной системе висмут
 – германий, создаваемой в вакууме путем последовательной конденсации компонентов при испарении
 их из независимых источников. Показано, что температура плавления в указанной системе понижается
 с уменьшением толщины пленки легкоплавкого компонента. Дифференциальный метод, исполь
 зованный для регистрации температуры плавления, позволил найти значение эвтектической температуры
 Tε = 542 K в системе Bi-Ge. Определены величина переохлаждения при кристаллизации (∆Т = 93 К) и
 краевой угол смачивания (θ = 68°) для островковых пленок висмута на аморфной германиевой подложке Приводяться результати досліджень плавлення і кри
 сталізації в шаруватій плівковій системі вісмут – гер
 маній, яка створюється у вакуумі шляхом послідовної
 конденсації компонентів при випаровуванні їх з неза
 лежних джерел. Показано, що температура плавлення
 в указаній системізнижується зізменшенням товщини
 плівки легкоплавкого компонента. Диференціальний
 метод, використаний для реєстрації температури плав
 лення, дозволив знайти значення евтектичної тем
 ператури Tε
 = 542 K у системі Bi-Ge. Визначено вели-
 чину переохолодження при кристалізації (∆Т = 93 К)
 та крайовий кут змочування (θ = 68°) для острівцевих
 плівок вісмуту на аморфній германієвій підкладці The results of studies of melting and crystallization processes
 in Bi-Ge layered film system are presented. These
 systems were prepared by subsequent condensation of
 components in vacuum. It has been shown that the melting
 temperature in system under study decreases with the
 decrease of Bi film thickness. The differential technique
 used for melting temperature registration enables us to
 measure the value of eutectic temperature Tε = 542 K in
 the system. The values of supercooling upon crystallization
 (∆Т = 93 К) and wetting angle (θ = 68°) have been
 determined for Bi islands on amorphous Ge substrate
first_indexed 2025-11-26T01:38:00Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98384
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1999-8074
language Russian
last_indexed 2025-11-26T01:38:00Z
publishDate 2004
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Богатыренко, С.И.
Гладких, Н.Т.
Дукаров, С.В.
Крышталь, А.П.
2016-04-13T07:31:32Z
2016-04-13T07:31:32Z
2004
Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi / С.И. Богатыренко, Н.Т. Гладких, С.В. Дукаров, А.П. Крышталь // Физическая инженерия поверхности. — 2004. — Т. 2, № 1-2. — С. 32–36. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98384
539.216.2:532.64
Приведены результаты исследований плавления и кристаллизации в слоистой пленочной системе висмут
 – германий, создаваемой в вакууме путем последовательной конденсации компонентов при испарении
 их из независимых источников. Показано, что температура плавления в указанной системе понижается
 с уменьшением толщины пленки легкоплавкого компонента. Дифференциальный метод, исполь
 зованный для регистрации температуры плавления, позволил найти значение эвтектической температуры
 Tε = 542 K в системе Bi-Ge. Определены величина переохлаждения при кристаллизации (∆Т = 93 К) и
 краевой угол смачивания (θ = 68°) для островковых пленок висмута на аморфной германиевой подложке
Приводяться результати досліджень плавлення і кри
 сталізації в шаруватій плівковій системі вісмут – гер
 маній, яка створюється у вакуумі шляхом послідовної
 конденсації компонентів при випаровуванні їх з неза
 лежних джерел. Показано, що температура плавлення
 в указаній системізнижується зізменшенням товщини
 плівки легкоплавкого компонента. Диференціальний
 метод, використаний для реєстрації температури плав
 лення, дозволив знайти значення евтектичної тем
 ператури Tε
 = 542 K у системі Bi-Ge. Визначено вели-
 чину переохолодження при кристалізації (∆Т = 93 К)
 та крайовий кут змочування (θ = 68°) для острівцевих
 плівок вісмуту на аморфній германієвій підкладці
The results of studies of melting and crystallization processes
 in Bi-Ge layered film system are presented. These
 systems were prepared by subsequent condensation of
 components in vacuum. It has been shown that the melting
 temperature in system under study decreases with the
 decrease of Bi film thickness. The differential technique
 used for melting temperature registration enables us to
 measure the value of eutectic temperature Tε = 542 K in
 the system. The values of supercooling upon crystallization
 (∆Т = 93 К) and wetting angle (θ = 68°) have been
 determined for Bi islands on amorphous Ge substrate
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
Плавлення та кристалізація в шаруватої плівкової системі Ge-Bi
Melting and crystallization in layered film system Ge-Bi
Article
published earlier
spellingShingle Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
Богатыренко, С.И.
Гладких, Н.Т.
Дукаров, С.В.
Крышталь, А.П.
title Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
title_alt Плавлення та кристалізація в шаруватої плівкової системі Ge-Bi
Melting and crystallization in layered film system Ge-Bi
title_full Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
title_fullStr Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
title_full_unstemmed Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
title_short Плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе Ge-Bi
title_sort плавление и кристаллизация в слоистой плёночной системе ge-bi
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98384
work_keys_str_mv AT bogatyrenkosi plavlenieikristallizaciâvsloistoiplenočnoisistemegebi
AT gladkihnt plavlenieikristallizaciâvsloistoiplenočnoisistemegebi
AT dukarovsv plavlenieikristallizaciâvsloistoiplenočnoisistemegebi
AT kryštalʹap plavlenieikristallizaciâvsloistoiplenočnoisistemegebi
AT bogatyrenkosi plavlennâtakristalízacíâvšaruvatoíplívkovoísistemígebi
AT gladkihnt plavlennâtakristalízacíâvšaruvatoíplívkovoísistemígebi
AT dukarovsv plavlennâtakristalízacíâvšaruvatoíplívkovoísistemígebi
AT kryštalʹap plavlennâtakristalízacíâvšaruvatoíplívkovoísistemígebi
AT bogatyrenkosi meltingandcrystallizationinlayeredfilmsystemgebi
AT gladkihnt meltingandcrystallizationinlayeredfilmsystemgebi
AT dukarovsv meltingandcrystallizationinlayeredfilmsystemgebi
AT kryštalʹap meltingandcrystallizationinlayeredfilmsystemgebi