Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые
 аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при
...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Datum: | 2003 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2003
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98449 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862673422238089216 |
|---|---|
| author | Удовицкий, В.Г. |
| author_facet | Удовицкий, В.Г. |
| citation_txt | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Физическая инженерия поверхности |
| description | Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые
аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при
их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о
возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных
модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также
экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами.
Наводяться результати рентгенівських досліджень кристалічної структури тонких плівок органічного напівпровідника – дибензотетрааза[14]анулену, конденсованих
на не підігріті аморфні підкладки. Встановлено, що
досконала текстура, яка спостерігається в плівках, залишається незмінною при їхньому тривалому зберіганні,
а також після багаторазових термообробок. Висловлено припущення про можливість двохфазного складу
плівок (одночасного існування в них двох поліморфних
модифікацій), яке добре узгоджується з особливостями
дифрактограм, а також експериментальними результатами, опублікованими іншими авторами.
The results of X-ray crystal structure investigation of organic
semiconductor – dibenzotetraaza[14]annulene as
thin films are given. The thin films were deposited on unheated
amorphous substrates by vacuum condensation.
It is established that the films had high structural order
(texture) which is stable during long-term preservation
and also under repeated thermal treatment. Polymorphic
structure (presence of two polymorphic modifications)
for the films is assumed. The assumption has a good
agreement with X-ray diffractogram peculiarities and
experimental results published by other authors.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:38:24Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98449 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1999-8074 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T15:38:24Z |
| publishDate | 2003 |
| publisher | Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Удовицкий, В.Г. 2016-04-14T17:28:43Z 2016-04-14T17:28:43Z 2003 Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. 1999-8074 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98449 Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые
 аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при
 их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о
 возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных
 модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также
 экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами. Наводяться результати рентгенівських досліджень кристалічної структури тонких плівок органічного напівпровідника – дибензотетрааза[14]анулену, конденсованих
 на не підігріті аморфні підкладки. Встановлено, що
 досконала текстура, яка спостерігається в плівках, залишається незмінною при їхньому тривалому зберіганні,
 а також після багаторазових термообробок. Висловлено припущення про можливість двохфазного складу
 плівок (одночасного існування в них двох поліморфних
 модифікацій), яке добре узгоджується з особливостями
 дифрактограм, а також експериментальними результатами, опублікованими іншими авторами. The results of X-ray crystal structure investigation of organic
 semiconductor – dibenzotetraaza[14]annulene as
 thin films are given. The thin films were deposited on unheated
 amorphous substrates by vacuum condensation.
 It is established that the films had high structural order
 (texture) which is stable during long-term preservation
 and also under repeated thermal treatment. Polymorphic
 structure (presence of two polymorphic modifications)
 for the films is assumed. The assumption has a good
 agreement with X-ray diffractogram peculiarities and
 experimental results published by other authors. Автор благодарит проф. Орлова В.Д за постоянный интерес и поддержку проводимых исследований, доц. Колос Н.Н.за синтез ТАА, а также к.х.н. Баумера В.Н. и ст. инж. Вернигору К.П. за помощь в проведении дифрактометрических измерений. ru Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України Физическая инженерия поверхности Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена Рентгенівське дослідження кристалічної структури тонких плівок дібензотетрааза [14] аннулена X-ray investigation of dibenzotetraaza [14] annulene thin film crystal structure Article published earlier |
| spellingShingle | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена Удовицкий, В.Г. |
| title | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_alt | Рентгенівське дослідження кристалічної структури тонких плівок дібензотетрааза [14] аннулена X-ray investigation of dibenzotetraaza [14] annulene thin film crystal structure |
| title_full | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_fullStr | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_full_unstemmed | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_short | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_sort | рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98449 |
| work_keys_str_mv | AT udovickiivg rentgenovskoeissledovaniekristalličeskoistrukturytonkihplenokdibenzotetraaza14annulena AT udovickiivg rentgenívsʹkedoslídžennâkristalíčnoístrukturitonkihplívokdíbenzotetraaza14annulena AT udovickiivg xrayinvestigationofdibenzotetraaza14annulenethinfilmcrystalstructure |