Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена - Удовицкий, В.Г. (Физическая инженерия поверхности, 2003)
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые
аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при
их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о
возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных
модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также
экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами. Наводяться результати рентгенівських досліджень кристалічної структури тонких плівок органічного напівпровідника – дибензотетрааза[14]анулену, конденсованих
на не підігріті аморфні підкладки. Встановлено, що
досконала текстура, яка спостерігається в плівках, залишається незмінною при їхньому тривалому зберіганні,
а також після багаторазових термообробок. Висловлено припущення про можливість двохфазного складу
плівок (одночасного існування в них двох поліморфних
модифікацій), яке добре узгоджується з особливостями
дифрактограм, а також експериментальними результатами, опублікованими іншими авторами. The results of X-ray crystal structure investigation of organic
semiconductor – dibenzotetraaza[14]annulene as
thin films are given. The thin films were deposited on unheated
amorphous substrates by vacuum condensation.
It is established that the films had high structural order
(texture) which is stable during long-term preservation
and also under repeated thermal treatment. Polymorphic
structure (presence of two polymorphic modifications)
for the films is assumed. The assumption has a good
agreement with X-ray diffractogram peculiarities and
experimental results published by other authors.