Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хр...
Saved in:
| Published in: | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Date: | 2003 |
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2003
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98449 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |