Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена

• Veröffentlicht in: Физическая инженерия поверхности
• Datum: 2003
• 1. Verfasser: Удовицкий, В.Г.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2003
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98449
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые
 аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при
...