Структура, субструктурные характеристики и напряженное состояние нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной карбидной системы WC-TiC
Методами широкоугловой рентгеновской дифрактометрии в сочетании с рентгенфлюоресцентным спектральным анализом изучено влияние состава распыляемого материала и температуры
 осаждения на фазовый и элементный составы, структуру, субструктурные характеристики и
 напряженное состояние ион...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Дата: | 2007 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2007
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98820 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Структура, субструктурные характеристики и напряженное состояние нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной карбидной системы WC-TiC / О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 1-2. — С. 101–109. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Методами широкоугловой рентгеновской дифрактометрии в сочетании с рентгенфлюоресцентным спектральным анализом изучено влияние состава распыляемого материала и температуры
осаждения на фазовый и элементный составы, структуру, субструктурные характеристики и
напряженное состояние ионно-плазменных конденсатов квазибинарной системы WC-TiC.
Методами ширококутової рентгенівської дифрактометрії та рентгенофлюоресцентного спектрального аналізу вивчено вплив складу матеріалу,
що розпорошується, та температури осадження
на фазовий та елементний склад, структуру, субструктурні характеристики та напружений стан
іонно-плазмових покриттів квазібінарної системи
WC-TiC.
Using X-ray diffraction and X-ray fluorescent spectral
methods the effects of sputtered material and
deposition temperature on the phase and element
composition, structure, substructure features, and
stress state in the ion-plasma quasi-binary WC-TiC
coatings.
|
|---|---|
| ISSN: | 1999-8074 |