Структура, субструктурные характеристики и напряженное состояние нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной карбидной системы WC-TiC - Соболь, О.В. (Физическая инженерия поверхности, 2007)
Методами широкоугловой рентгеновской дифрактометрии в сочетании с рентгенфлюоресцентным спектральным анализом изучено влияние состава распыляемого материала и температуры
осаждения на фазовый и элементный составы, структуру, субструктурные характеристики и
напряженное состояние ионно-плазменных конденсатов квазибинарной системы WC-TiC. Методами ширококутової рентгенівської дифрактометрії та рентгенофлюоресцентного спектрального аналізу вивчено вплив складу матеріалу,
що розпорошується, та температури осадження
на фазовий та елементний склад, структуру, субструктурні характеристики та напружений стан
іонно-плазмових покриттів квазібінарної системи
WC-TiC. Using X-ray diffraction and X-ray fluorescent spectral
methods the effects of sputtered material and
deposition temperature on the phase and element
composition, structure, substructure features, and
stress state in the ion-plasma quasi-binary WC-TiC
coatings.