Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов

Проанализированы известные методы контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов с привлечением вычислительной техники. Предложены для диагностики и контроля методы фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии и контактной разности потенциалов, позволяющие оценить влияние механической обраб...

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Published in:	Физическая инженерия поверхности
Date:	2007
Main Authors:	Назаров, Ю.Ф., Шкилько, А.М., Тихоненко, В.В., Компанеец, И.В.
Format:	Article
Language:	Russian
Published:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2007
Online Access:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98833
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов / Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 207–216. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

_version_	1859468515309780992
author	Назаров, Ю.Ф. Шкилько, А.М. Тихоненко, В.В. Компанеец, И.В.
author_facet	Назаров, Ю.Ф. Шкилько, А.М. Тихоненко, В.В. Компанеец, И.В.
citation_txt	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов / Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 207–216. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.
collection	DSpace DC
container_title	Физическая инженерия поверхности
description	Проанализированы известные методы контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов с привлечением вычислительной техники. Предложены для диагностики и контроля методы фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии и контактной разности потенциалов, позволяющие оценить влияние механической обработки на качество и физико-химическое состояние поверхности. Проаналізовані та розвинуті відомі методи контролю шорсткості поверхні металів та сплавів з залученням обчисливальної техніки. Запропоновані для діагностики та контролю методи фотостимульованої екзоелектронної емісії та контактної різниці потенціалів, що дозволяє оцінити вплив механічної обробки на якість та фізико-хімічний стан поверхні. The known metal surface roughness control methods have been analyzed and developed with the help of counting techniques. Methods of photostimulating exoelectron emission and contact potential difference are suggested for diagnostics and control. They allow to estimate mechanical processing influence on the quality and physical-chemical state of surface.
first_indexed	2025-11-24T09:02:57Z
format	Article
fulltext	ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4 207 ВВЕДЕНИЕ Повышение качества выпускаемой продук- ции требует решения многочисленных про- блем в самых различных областях. Техноло- гические проблемы относятся к ряду важней- ших, ибо их успешное решение определяет, в конечном итоге, эксплуатационные пока- затели даже прекрасно спроектированных изделий. Одной из таких проблем является оценка влияния шероховатости, волнистости и отклонений от формы поверхностей дета- лей на их функциональные свойства. Шероховатость (микрогеометрия) поверх- ности является одной из важнейших характе- ристик материалов и влияет на износостой- кость, контактную жесткость, коррозионную стойкость и другие функциональные характе- ристики поверхности. Однако, до настояще- го времени вопросы достоверности оценки шероховатости изучены недостаточно, а оп- ределение существующих стандартных и не- стандартных критериев шероховатости дос- таточно трудоемки, и поэтому, не всегда м- огут быть использованы для решения многих задач в производственных условиях. Проведение исследований по установле- нию наиболее достоверных критериев шеро- ховатости, а также разработка методик и ус- тройств, позволяющих автоматизировать процесс измерения, является актуальной за- дачей, направленной на повышение качества продукции и развитие производства. Целью работы является анализ известных методов контроля шероховатости поверхнос- ти металлов и сплавов и развитие методов на основе фотостимулированной экзоэлектрон- ной эмиссии (ФСЭЭ) и контактной разности потенциалов (КРП) для оценки качества по- верхности. ПАРАМЕТРЫ ШЕРОХОВАТОСТИ И МЕТОДЫ ИХ ИЗМЕРЕНИЙ Существует несколько систем определения числовых значений параметров шероховато- сти поверхности, однако, самой распростра- ненной из них является система средней ли- нии (система М), которая соответствует реко- мендациям ISO и учтена ДСТУ 2413-94 и ГОСТ 2789-73. Количественно шероховатость поверхнос- ти оценивается такими основными парамет- рами: · среднее арифметическое отклонение про- филя – Ra; · наибольшая высота неровностей профиля – Rmax; · средний шаг неровностей профиля – Sm; · средний шаг неровностей профиля по вер- шинам – S; · опорная длина профиля – ηp; · относительная опорная длина профиля – tp; · высота неровности профиля по десяти точ- кам (сумме средних арифметических абсо- лютных отклонений точек пяти наибольших УДК 531.717.8 : 537.533.2 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец Украинская инженерно-педагогическая академия (Харьков) Украина Московский государственный открытый университет Россия Поступила в редакцию 16.08.2007 Проанализированы известные методы контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов с привлечением вычислительной техники. Предложены для диагностики и контроля методы фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии и контактной разности потенциалов, позволяющие оценить влияние механической обработки на качество и физико-химическое состояние поверхности. ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4 211 ЭВМ. Загрузка и обработка данных профило- метр-профилографа производится по предва- рительно введенной в ЭВМ программе. Единственным не серийным узлом установки является устройство ввода данных, которое предназначено для организации автоматичес- кого сбора информации профилометр-про- филографа с помощью цифрового вольтмет- ра. Устройство ввода выполнено в виде авто- номного прибора и состоит из коммутирую- щего узла, узлов управления и питания, и бу- ферных элементов. Предусмотрено подклю- чение двухкоординатного самописца. Спе- циальное программное обеспечение позво- ляет выводить протокол измерений в макси- мально удобном для пользователя виде. Для решения задач микрогеометрии по- верхности применяются во всех случаях па- раметрические критерии, основным досто- инством которых является упрощение ре- шения практических задач, но они не поз- воляют решать эти задачи на высоком техни- ческом уровне, требующем индивидуали- зации и точной оптимизации микрогеомет- рии поверхности для конкретного ей функ- ционального свойства и определения условий эксплуатации. Для этого требуется полное и достоверное описание микрогеометрии по- верхности. С достаточной для практики сте- пенью точности, шероховатость поверхнос- ти можно оценить одним параметром (Ra или Rq) лишь при ее случайном характере и нор- мальном распределении отклонений профи- ля от средней линии. В остальных случаях для оценки шероховатости поверхности тре- буется большое количество различных пара- метров. Известно, что в общем случае геометрия реальной обработанной поверхности зависит от большого количества различных факторов (параметров режимов резания, качества ре- жущего инструмента, погрешности формы и неравномерности механических свойств ма- териала заготовки и т.д.), поэтому ее следует рассматривать как реализацию случайного поля. Тогда профиль реальной поверхности есть реализация случайной функции. Естест- венным поэтому является стремление испо- льзовать для оценки профиля поверхности критерии, которыми оценивают в математике случайные функции. Исследования [6] показали, что самой пол- ной информацией о профиле располагают функции плотности распределения его орди- нат и углов наклона. Поэтому и предлагается использовать в качестве критериев оценки микрогеометрии поверхности графические изображения этих функций. Эти функции чувствительны к любому изменению геомет- рии профиля, а значит, и к изменению режи- мов обработки. Алгоритмами для разработки программ служат математические выражения стандартных вышеперечисленных парамет- ров шероховатости в соответствии с ГОСТ 2789-73 и ДСТУ 2409-94 (рис. 3) и допол- нительно учтенных критериев оценки шеро- ховатости, таких как функций плотности рас- пределения ординат и углов наклона профи- ля [6, 7]. Вычислительные операции по определе- нию стандартных параметров и построению дополнительных критериев шероховатости выполняются в соответствии с разработан- ным алгоритмом. Построение дополнитель- ных критериев по данному алгоритму заклю- чается в вычислении коэффициентов распре- деления ординат; построении гистограммы тангенсов углов наклона профиля и гисто- граммы ординат безразмерного профиля, а также вероятностных интегральных кривых по этим гистограммам; вычислении безраз- мерного профиля, и в итоге в построении нормированной автокорреляционной функ- ции для этого профиля. Разработанная про- грамма прошла апробацию при определении стандартных критериев шероховатости, отла- жена и готова к практическому использова- нию. Рис. 3. Действительный профиль (профилограмма) по- верхности. Ю.Ф. НАЗАРОВ, А.М. ШКИЛЬКО, В.В. ТИХОНЕНКО, И.В. КОМПАНЕЕЦ ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4212 ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ ПОВЕРХНОСТИ Исследование влияния механической обра- ботки поверхностей металлов на эмиссион- ные характеристики (интенсивность, кинети- ка и энергетический спектр) вторичной элект- ронной эмиссии, экзоэлектронной эмиссии и работы выхода электрона является актуаль- ным в различных областях науки и техники. Метод экзоэлектронной эмиссии (ЭЭЭ) в настоящее время нашел достаточно широ- кое применение для исследования и неразру- шающего контроля физико-химического сос- тояния поверхностей твердых тел и процес- сов, протекающих в поверхностных и припо- верхностных слоях при различных внешних воздействиях [8]. Метод ЭЭЭ позволяет ре- гистрировать такие изменения субмикро- объемов (микротрещины и другие дефекты), которые другими методами зарегистрировать крайне трудно. Кроме этого, используемые для этих целей методы оптической и элект- ронной микроскопии, авторадиографии и другие обладают существенным недостатком: они дают изображение поверхности, но не да- ют количественной информации. Используя экзоэмиссионную методику, можно получить информацию, как в виде изображения, так и в количественном значении. Для изучения распределения экзоэмис- сионных свойств по поверхности образца с регулярным рельефом использовалась экспе- риментальная техника, описанная в [9]. Об- разцы подвергались пластической деформа- ции путем вибрационного обкатывания по- верхности металлическим шаром. Выбор это- го способа был связан с тем, что, в отличие от всех традиционных видов механической обработки, он обеспечивает создание на по- верхности управляемого регулярного микро- рельефа с однородными по форме и взаимо- расположению микронеровностями. Вибро- обкатывание производилось металлическим шаром диаметром 4⋅10–3 м при усилиях от 19,6 Н до 68,6 Н. Измерения прводились путем сканирования светового пучка по дли- не образца из стали Х18Н10Т на участке, представленном неровностями размером 4 ÷ 6 мкм. Отмечено, что независимо от длины волны стимулирующего возбуждения (250 ÷ 350 нм) интенсивность экзоэлектронов уве- личивается на вершинах рельефа поверхно- сти, т.е. зоны с наиболее высокой интенсив- ностью эмиссии находятся на вершинах (рис. 4). Влияние обработки поверхности на ин- тенсивность ФСЭЭ представлено на рис. 5. Кривая 1 получена с центрального некатан- ного участка. Кривая 2 снята с образца, по- верхность которого была подвергнута дефор- мации накаткой с давлением 98 Н. Сравнивая кривые для некатанного участка (1) и нака- танных областей (2), можно сказать, что мак- симальные различия по интенсивности для этих двух случаев составляют ≈20%. Установлено, что топография поверхнос- ти, даже если изменения ее рельефа не пре- вышают разрешающей способности анализа- тора, играет важную роль в механизме воз- буждения эмиссии экзоэлектронов и регист- рации эмитированного сигнала. Показано, что имеет место существенная неоднородность эмиссионных свойств нака- танного образца по его поверхности. Интен- сивность ФСЭЭ меньше для накатанного образца, чем для участков с рельефом. Суб- Рис. 5. Зависимость ФСЭЭ для различных участков поверхности с нанесенным микрорельефом. Рис. 4. Изменение интенсивности ФСЭЭ по плоскости образца: 1 – вершина; 2, 3 – впадины. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4 213 микрорельеф поверхностей, обработанных по 4 – 6 квалитету, практически не отличается от поверхностей с регулярным рельефом, в то время как микрорельеф поверхностей по- сле механической обработки отличается от такового для поверхностей с регулярным ре- льефом. Искажения, вносимые шероховатой по- верхностью образца, могут быть определены косвенным образом, путем проведения пред- варительного топографического исследова- ния образца, учитывая все критерии поверх- ности, но не так как это делалось в случае простого использования двухмерного про- филя. Нетрудно показать, что образцы, ха- рактеризуемые одинаковыми статистичес- кими критериями, определенными по про- филю, могут иметь различные виды топо- графии поверхности и, таким образом, давать совершенно различные картины при приме- нении метода ФСЭЭ. Другими словами, результаты измерений показывают, что при применении экзоэмиссионной спектромет- рии для количественной оценки сравнения пика интенсивности потока экзоэлектронов, полученного на шероховатом образце, с пи- ком интенсивности, полученным на гладком образце, может дать расхождение более 50%. Также возникает вопрос о воспроизводимос- ти результатов, т.к. взаимное расположение детектора электронов и падающего пучка различно для каждого устройства. Метод контактной разности потенциа- лов. Многочисленные исследования пока- зали, что эффективно оценивать качество поверхности (в т. ч. шероховатость) металлов и сплавов можно путем измерения работы выхода электрона Ф, как наиболее чувстви- тельного параметра состояния поверхности твердого тела. Для определения работы вы- хода электрона широко используют измере- ние контактной разности потенциалов (КРП) между эталонной и исследуемой поверхнос- тью VКРП = (Ф1 – Ф2)/е [10]. Развитие электроники и микропроцес- сорной техники позволяет автоматически проводить процесс измерения изменений, возникающих на поверхности твердотельных объектов при различных внешних воздейст- виях. В работе [11] предложен измеритель КРП, применяемый в качестве средства экс- пресс-контроля состояния поверхности кон- струкционных материалов после различных технологических операций. Структурная схе- ма прибора приведена на рис. 6. Прибор конструктивно состоит из двух ос- новных узлов: выносного измерительного блока и блока обработки сигнала, представля- ющего собой микропроцессорную систему управления (МПСУ), работающую в режиме реального масштаба времени. Применение МПСУ дает возможность резко повысить технические характеристики прибора и мак- симально автоматизировать управление. Выносной измерительный блок представ- ляет собой цилиндр, в котором в нижней его части размещены обмотка возбуждения и эталонный электрод, изготовленный из зо- лота, имеющего наиболее стабильную работу выхода. Блоки 1 и 2 представляют собой элемент классической измерительной ячейки динамического конденсатора. Через раздели- тельный конденсатор переменное напря- жение подается на усилитель (блок 4), слу- жащий для согласования измерительной ячейки с прецизионным детектором (блок 5). Абсолютная величина напряжения КРП с выхода блока 5 подается на один из входов компаратора 6, на второй вход которого по- ступает напряжение с выхода ЦАП (блок 7). Блоки 6 и 7 под управлением МПСУ реали- зует блок АЦП поразрядного уравновеши- Рис. 6. Структурная схема автоматического измери- теля и регистрации КРП: 1 – генератор, 2 – датчик (измерительная ячейка), 3 – цифроаналоговый пре- образователь (ЦАП) напряжения, 4 – усилитель переменного напряжения, 5 – прецизионный детектор, 6 – компаратор блока аналого-цифрового преобразо- вателя (АЦП), 7 – ЦАП блока АЦП, 8 – програм- мируемый периферийный адаптер связи МПСУ с блоками измерительной схемы, 9 – МПСУ, 10 – блок индикации, 11 – блок фотостимуляции, 12– персональ- ный компьютер (ПК). Ю.Ф. НАЗАРОВ, А.М. ШКИЛЬКО, В.В. ТИХОНЕНКО, И.В. КОМПАНЕЕЦ ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4214 вания. Блок ЦАП (3) реализует программно- управляющий источник компенсирующего напряжения. Блок 8 предназначен для связи МПСУ с внешними устройствами и реали- зует стандартный протокол обмена двухнап- равленного порта ввода-вывода. Блок индика- ции служит для отображения значений КРП на светодиодном дисплее. Искомое значение КРП может быть зарегистрировано и обра- ботано ПК (блок 12), подключаемым через устройство сопряжения. КРП материалов, подвергнутых обработке абразивными шкурками с разной зернистос- тью и одинаковым материалом абразива и после полировки, показывает, что обработка, обеспечивая разную шероховатость поверх- ности, приводит к изменению величины КРП. Дальнейшее изменение КРП зависит как от вида материала, так и от способа обработки поверхности (степень шероховатости). После абразивной обработки значение КРП увеличивается (уменьшается работа выхода электрона) и с течением времени воз- вращается в исходное состояние в результате адсорбции активных веществ окружающей атмосферы и других физико-химических процессов, протекающих на поверхности. При этом изменению параметра шерохова- тости Ra соответствует значение КРП раз- личной величины. Так, для грубой обработки значение КРП в течение первых 2 ÷ 3 минут резко уменьшается, а затем уменьшение КРП происходит плавно [12]. В случае полированных поверхностей (Ra – 0,040 ÷ 0,050 мкм) величина КРП ми- нимальная. Исследования с привлечением методов электронографии и рентгенострук- турного анализа показали, что полированная поверхность представляет собой высокопроч- ную структуру, состоящую из ультрадисперс- ных частиц размерами 10 ÷ 100 нм. В работе [13] высказано предположение, что мини- мальное значение КРП полированных по- верхностей обусловлено минимальной плос- костью дислокаций в тончайшем поверх- ностном слое с оптимальным субмикро- рельефом. Таким образом, при образовании сверх- гладкой поверхности физико-химические па- раметры могут влиять на эксплуатационные свойства в большей степени, чем геометри- ческие характеристики. Одним из авторов предложено для успеш- ного решения проблем нанообработки дета- лей увязать эксплуатационные характерис- тики деталей с технологическими парамет- рами процессов обработки и таким образом управлять достижением заданных эксплуа- тационных характеристик [14]. Следователь- но, необходимо иметь такие интегральные па- раметры поверхностного слоя, которые по- зволили бы установить такую взаимосвязь и управлять эксплуатационными свойствами непосредственно при обработке деталей тех- нологической линии. Разработанная концепция нанообработки деталей, в отличие от существующей, заклю- чается в установлении взаимосвязей между эксплуатационными характеристиками и тех- нологическими параметрами с помощью интегральных параметров поверхностного слоя: фактора шероховатости и величины ра- боты выхода электрона. При установлении взаимосвязей в качест- ве геометрических параметров были выбра- ны волнистость, шероховатость (согласно ГОСТ) и параметр фактора шероховатости, а параметрами физико-химического состояния поверхности приняты: структура, фазовое состояние, химический состав фаз и толщина неметаллической пленки. Интегральными параметрами рассогласования выбраны: для геометрических характеристик – фактор ше- роховатости F, для физико-химических – Ф – величина работы выхода электрона (РВЭ). Фактор шероховатости показывает отно- шение площади гладкой замыкающей части впадины к площади шероховатой части впа- дины. Он учитывает не только высоту шеро- ховатости, высоту субмикрошероховатости, но и полноту впадин (выступов) шерохова- тости. На практике этот фактор определяется из профилограмм и электронных снимков. Анализ значений фактора шероховатости на поверхностях деталей после различной обра- ботки показал, что при высоте шероховатости Ra ≤ 0,1мкм его величина практически равна 1. Поэтому его можно использовать как инте- гральный параметр при измерении высоты шероховатости не менее 0,1 мкм. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4 215 Для меди КРП увеличивается с увеличени- ем отражательной способности поверхности, поэтому наблюдаемое снижение Rs свидете- льствует о повышении работы выхода элект- рона (снижения КРП) при термообработке в вакууме и отжиге на воздухе при 373 К в те- чение одного часа. Повышение температуры отжига на возду- хе до 473 К и 573 К также приводит к умень- шению величины Rs. Это свидетельствует об образовании устойчивой оксидной пленки на поверхности образцов, состояние и свойства которой характеризуют предельные значения Rs и VT.Отрицательные значения указывают на качественное изменение зарядного сос- тояния отражающей поверхности. Для медных и золоченых зеркал устано- вленная корреляция между Rs и КРП позво- ляет контролировать процесс их изготовле- ния на любом этапе технологического про- цесса и отбирать детали с отражательной спо- собностью, отвечающей требованиям техни- ческих условий. ЗАКЛЮЧЕНИЕ Таким образом, в работе проанализированы известные методы контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов, определены дополнительные критерии оценки микрогео- метрии поверхностей и разработан алгоритм по определению стандартных параметров и построению дополнительных критериев ше- роховатости. Предложенная блок-схема уста- При уменьшении высоты шероховатости менее 0,1 мкм интегральным параметром рассогласования принята величина КРП. Исследования показали, что, используя метод КРП можно оценивать любое изменение фи- зико-химического состояния в результате об- работки поверхности. По предварительно ус- тановленным зависимостям между эксплуа- тационными характеристиками, например, отражательной способностью и величиной РВЭ, можно оценить изменение отражатель- ной способности на любом технологическом переходе. В качестве примера на рис. 7 приведены зависимости между отражательной способ- ностью Rs и величиной РВЭ поверхности медных зеркал после абразивного полиро- вания и последующей термообработки с раз- личными режимами. Из графического изо- бражения результатов исследования видно, что график эмпирической линии регрессии можно аппроксимировать гиперболой. По предварительно установленным зави- симостям можно оценить отражательную способность поверхности детали из конкрет- ного материала на любом этапе технологи- ческой обработки. Так, например, для исход- ной серии зеркал с предельным значением Rs = 99,3 % предельные значения КРП до- стигают 227 мВ. Различия в предельных зна- чениях КРП обусловлены разной степенью дефектности (часто неконтролируемой) обра- батываемой поверхности. а) б) Рис. 7. Экспериментальные – а) и теоретические – б) значения отражательной способности и контактной разности потенциалов медных зеркал: 1 – после абразивного полирования; 2 – после абразивного полирования с последующей термообработкой в вакууме при 573 К в течение 1 часа; 3 – 5 – после абразивного полирования с последующей термообработкой на воздухе в течение 1 часа при 373 К, 473 К, 573 К. Ю.Ф. НАЗАРОВ, А.М. ШКИЛЬКО, В.В. ТИХОНЕНКО, И.В. КОМПАНЕЕЦ ФІП ФИП PSE, 2007, т. 5, № 3-4, vol. 5, No. 3-4216 новки для полного измерения шероховатости позволяет автоматизировать весь цикл изме- рения параметров шероховатости поверхно- сти. Установление взаимосвязей между экс- плуатационными характеристиками деталей и технологическими параметрами процессов обработки с помощью интегральных пара- метров поверхностного слоя (фактора шеро- ховатости и величины работы выхода элект- рона) дает возможность управлять процессом достижения заданных эксплуатационных характеристик. ЛИТЕРАТУРА 1. Ардашников Б.Н., Витенберг Ю.Р. Исследо- вание влияния шероховатости и наклепа на износостойкость//Сб. Технологические мето- ды повышения качества поверхности деталей машин (Ленинград). – 1978. – С. 112-117. 2. Privin I.C., Morgan A., Mairey D. The Influence of Surface Polishihg on the Oxidation of the Pure Nickel//Acta Metallurgica. – 1984. – № 12. – C. 2203-2212. 3. Базієвський С.Д., Дмитришин В.Ф. Взаємоза- мінність, стандартизація і технічні вимірю- вання. Підручник. – К.: Видавничий Дім “Слово”, 2006. – 504 с. 4. Контрольно-измерительные приборы и инст- рументы: Учебник/С.А. Зайцев, Д.Д. Гриба- нов, А.Н. Толстой, Р.В. Меркулов. – М.: Изда- тельский центр “Академия”, 2003. – 464 с. 5. Каталог подукции KODA® 2005/2006. Совре- менные средства измерительной техники. – Харьков, 2005. – 89 с. 6. Валетов В.А. О практической пригодности некоторых критериев для оценки шерохова- тости поверхности//Труды ЛКИ “Технология корпусостроения, судового машиностроения и сварки в судостроении”. (Ленинград). – 1978. – С. 19-24. 7. Валетов В.А. Особенности контроля шерохо- ватости продольношлифованных поверхнос- тей//Труды ЛКИ “Технология судостроения, судового машиностроения, обработка метал- лов и сварка”. (Ленинград).– 1981.– С. 74-79. 8. Кортов В.С., Слесарев А.И., Рогов В.В. Экзо- эмиссионный контроль поверхности деталей после обработки.– К.: Наукова думка, 1986. – 174 с. 9. Шкилько А.М., Креснин А.А. Применение экзоэлектронной эмиссии для исследования физико-химических свойств материалов. – Харьков: УЗПИ, 1980. – 75 с. 10. Царев Б.М. Контактная разность потенци- алов. – М.: ГИТТЛ, 1955. – 280 с. 11. Шкилько А.М. Метод контактной разности потенциалов//Современные приборы, мате- риалы и технологии для технической диагно- стики и неразрушающего контроля промыш- ленного оборудования: Сб. научных трудов – Харьков: ХГТУРЭ, 1998. – C. 248-254. 12. Шпеньков Г.П. Физикохимия трения (при- менительно к избирательному переносу и во- дородному износу). – Минск: БГУ им. Лени- на, 1978. – 208 с. 13. Ковшов А.И., Назаров Ю.Ф., Ибрагимов И.М. Основы нанотехнологии в технике. – М.: МГОУ, 2007.– 241 с. 14. Рубан В.М., Лурье Г.Б., Назаров Ю.Ф., Рома- нова В.И. Корреляция между отражательной способностью меди и работой выхода элект- рона//ОПМ. – 1883. – № 12. – С. 9-11. МЕТОДИ ДОСЛІДЖЕННЯ ТА КОНТРОЛЮ ШОРСТКОСТІ ПОВЕРХНІ МЕТАЛІВ І СПЛАВІВ Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкілько, В.В. Тихоненко, І.В. Компанієць Проаналізовані та розвинуті відомі методи кон- тролю шорсткості поверхні металів та сплавів з залученням обчисливальної техніки. Запропоно- вані для діагностики та контролю методи фото- стимульованої екзоелектронної емісії та контакт- ної різниці потенціалів, що дозволяє оцінити вплив механічної обробки на якість та фізико- хімічний стан поверхні. METALS AND ALLOYS SURFACE ROUGHNESS INVESTIGATION AND CONTROL METHODS Yu.F. Nazarov, A.M. Shkilko, V.V. Tihonenko, I.V. Kompaneec The known metal surface roughness control methods have been analyzed and developed with the help of counting techniques. Methods of photostimulating exoelectron emission and contact potential difference are suggested for diagnostics and control. They allow to estimate mechanical processing influence on the quality and physical-chemical state of surface. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ
id	nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98833
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn	1999-8074
language	Russian
last_indexed	2025-11-24T09:02:57Z
publishDate	2007
publisher	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format	dspace
spelling	Назаров, Ю.Ф. Шкилько, А.М. Тихоненко, В.В. Компанеец, И.В. 2016-04-18T07:11:05Z 2016-04-18T07:11:05Z 2007 Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов / Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 207–216. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. 1999-8074 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98833 531.717.8 : 537.533.2 Проанализированы известные методы контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов с привлечением вычислительной техники. Предложены для диагностики и контроля методы фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии и контактной разности потенциалов, позволяющие оценить влияние механической обработки на качество и физико-химическое состояние поверхности. Проаналізовані та розвинуті відомі методи контролю шорсткості поверхні металів та сплавів з залученням обчисливальної техніки. Запропоновані для діагностики та контролю методи фотостимульованої екзоелектронної емісії та контактної різниці потенціалів, що дозволяє оцінити вплив механічної обробки на якість та фізико-хімічний стан поверхні. The known metal surface roughness control methods have been analyzed and developed with the help of counting techniques. Methods of photostimulating exoelectron emission and contact potential difference are suggested for diagnostics and control. They allow to estimate mechanical processing influence on the quality and physical-chemical state of surface. ru Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України Физическая инженерия поверхности Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов Методи дослідження та контролю шорсткості поверхні металів і сплавів Metals and alloys surface roughness investigation and control methods Article published earlier
spellingShingle	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов Назаров, Ю.Ф. Шкилько, А.М. Тихоненко, В.В. Компанеец, И.В.
title	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов
title_alt	Методи дослідження та контролю шорсткості поверхні металів і сплавів Metals and alloys surface roughness investigation and control methods
title_full	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов
title_fullStr	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов
title_full_unstemmed	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов
title_short	Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов
title_sort	методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов
url	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98833
work_keys_str_mv	AT nazarovûf metodyissledovaniâikontrolâšerohovatostipoverhnostimetallovisplavov AT škilʹkoam metodyissledovaniâikontrolâšerohovatostipoverhnostimetallovisplavov AT tihonenkovv metodyissledovaniâikontrolâšerohovatostipoverhnostimetallovisplavov AT kompaneeciv metodyissledovaniâikontrolâšerohovatostipoverhnostimetallovisplavov AT nazarovûf metodidoslídžennâtakontrolûšorstkostípoverhnímetalívísplavív AT škilʹkoam metodidoslídžennâtakontrolûšorstkostípoverhnímetalívísplavív AT tihonenkovv metodidoslídžennâtakontrolûšorstkostípoverhnímetalívísplavív AT kompaneeciv metodidoslídžennâtakontrolûšorstkostípoverhnímetalívísplavív AT nazarovûf metalsandalloyssurfaceroughnessinvestigationandcontrolmethods AT škilʹkoam metalsandalloyssurfaceroughnessinvestigationandcontrolmethods AT tihonenkovv metalsandalloyssurfaceroughnessinvestigationandcontrolmethods AT kompaneeciv metalsandalloyssurfaceroughnessinvestigationandcontrolmethods

Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов

Institution

Similar Items