Стервоедов, А., Береснев, В., & Сергеева, Н. (2010). Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок. Физическая инженерия поверхности.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Стервоедов, А.Н, В.М Береснев, und Н.В Сергеева. "Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок." Физическая инженерия поверхности 2010.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Стервоедов, А.Н, et al. "Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок." Физическая инженерия поверхности, 2010.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.