Стервоедов, А., Береснев, В., & Сергеева, Н. (2010). Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок. Физическая инженерия поверхности.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Стервоедов, А.Н, В.М Береснев, та Н.В Сергеева. "Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок." Физическая инженерия поверхности 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Стервоедов, А.Н, et al. "Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок." Физическая инженерия поверхности, 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.