Зображення обкладинки

Неразрушающий метод измерения глубины залегания p-n-перехода полупроводниковых фотоэлектрических структур

В работе описаны результаты разработки нового неразрушающего метода измерения глубины залегания р-n-перехода в структурах, предназначенных для изготовления фотоэлектрических приборов. Предложенный метод позволяет использовать более простые технические средства, по сравнению с традиционными метода...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Физическая инженерия поверхности
Дата:	2010
Автори:	Алиев, Р., Мухтаров, Э., Олимов, Л.
Формат:	Стаття
Мова:	Російська
Опубліковано:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2010
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98867
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Неразрушающий метод измерения глубины залегания p-n-перехода полупроводниковых фотоэлектрических структур / Р. Алиев, Э. Мухтаров, Л. Олимов // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 2. — С. 169–172. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

К исследованию глубины залегания Карпатской аномалии электропроводности
за авторством: Рокитянский, И.И., та інші
Опубліковано: (2014)

Неразрушающий метод измерения параметров диэлектриков в СВЧ диапазоне
за авторством: Макеев, Ю.Г., та інші
Опубліковано: (2002)

Неразрушающий метод определения температуры вязкохрупкого перехода в конструкционных металлах
за авторством: Стрижало, В.А., та інші
Опубліковано: (2000)

Распределение прочностных характеристик горных пород от глубины их залегания
за авторством: Феофанов, А.Н., та інші
Опубліковано: (2008)

Влияние глубины залегания угольных пластов на механические свойства угля
за авторством: Молодецкий, А.В., та інші
Опубліковано: (2009)

Технологический аспект повышения эффективности полупроводниковых фотоэлектрических преобразователей
за авторством: Курак, В.В., та інші
Опубліковано: (2002)

Особенности фотоэлектрических характеристик фотоэлектропреобразовательных структур
за авторством: Каримов, А.В., та інші
Опубліковано: (2007)

Особенности фотоэлектрических характеристик фотоэлектропреобразовательных структур
за авторством: Karimov, A. V., та інші
Опубліковано: (2007)

Методика определения глубины залегания дефектов в плоских элементах конструкций на основе электронной ширографии
за авторством: Лобанов, Л.М., та інші
Опубліковано: (2009)

Процесс формовки пластин поликристаллического кремния из порошкового сырья и анализ примесного состава их поверхности
за авторством: Алиев, Р., та інші
Опубліковано: (2011)

Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов
за авторством: Iermolenko, Ia. O.
Опубліковано: (2014)

Классификация методов измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов
за авторством: Ермоленко, Е.А.
Опубліковано: (2014)

Алгоритм решения уравнений диффузионно-дрейфовой модели полупроводниковых структур с лавинными p-n переходами
за авторством: Максимов, П.П.
Опубліковано: (2008)

Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур
за авторством: Бойко, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2007)

Новые элементы залегания на геологических картах
за авторством: Юдин, В.В.
Опубліковано: (2010)

Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур
за авторством: Popov, V. M., та інші
Опубліковано: (2010)

Aвтоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур
за авторством: Boiko, Yu. V., та інші
Опубліковано: (2007)

Варикап на основе сверхрезкого p—n-перехода
за авторством: Головяшкин, А.Н., та інші
Опубліковано: (2001)

Условия залегания и деформации даек грорудитов Приазовья
за авторством: Алехин, В.И.
Опубліковано: (2013)

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
за авторством: Ермоленко , Е.А., та інші
Опубліковано: (2012)

Определение параметров импульсной последовательности для адаптивного способа измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов
за авторством: Ермоленко, Е.А., та інші
Опубліковано: (2012)

ВАРИАЦИОННЫЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ РАЗНОСТИ ФАЗ
за авторством: Ламеко, А.Л.
Опубліковано: (2019)

Двухканальный переключатель СВЧ-мощности на основе электрически активных полупроводниковых структур
за авторством: Лаврич, Ю.Н., та інші
Опубліковано: (2014)

Влияние давления на параметры сверхпроводящего перехода в полупроводниковых твердых растворах PbzSn₁₋zTe, легированных In
за авторством: Парфеньев, Р.В., та інші
Опубліковано: (2015)

Особенности электрических характеристик n+–p-перехода на основе узкозонных полупроводников
за авторством: Косяченко, Л.А., та інші
Опубліковано: (2001)

Физико-технологические основы получения резкого p–n-перехода
за авторством: Каримов, А.В., та інші
Опубліковано: (2006)

Конференция-выставка «Неразрушающий контроль 2015»
Опубліковано: (2015)

Неразрушающий контроль качества композиционных материалов
за авторством: Троицкий, В.А., та інші
Опубліковано: (2014)

Конференция-выставка «Неразрушающий контроль — 2004»
Опубліковано: (2004)

Неразрушающий контроль объектов повышенной опасности
за авторством: Троицкий, В.А., та інші
Опубліковано: (2015)

Квантовая природа механизмов образования монослойных структур Ag на монокристаллических полупроводниковых поверхностях
за авторством: Карбовская, Л.И., та інші
Опубліковано: (2019)

Низкоразмерные кристаллы кремния для фотоэлектрических преобразователей
за авторством: Druzhinin, A. A., та інші
Опубліковано: (2011)

Низкоразмерные кристаллы кремния для фотоэлектрических преобразователей
за авторством: Дружинин, А.А., та інші
Опубліковано: (2011)

Анализ эффективности фотоэлектрических систем коммунального назначения
за авторством: Карпенко, Д.С., та інші
Опубліковано: (2016)

Импеданс полупроводниковых клатратов Sn₂₄P₁₉,₃BrxI₈₋x
за авторством: Якимчук, А.В., та інші
Опубліковано: (2007)

Инженерный метод определения энтальпии фазового перехода теплоаккумулирующего материала
за авторством: Снежкин, Ю.Ф., та інші
Опубліковано: (2012)

«Промышленный неразрушающий контроль 2002» — подведение итогов
Опубліковано: (2002)

Неразрушающий контроль твердости чугунных мелющих тел
за авторством: Твердохвалов, В.А., та інші
Опубліковано: (2017)

Международная специализированная выставка "Промышленный неразрушающий контроль"
Опубліковано: (2003)

Метод измерения динамических деформаций при сварке взрывом
за авторством: Добрушин, Л.Д., та інші
Опубліковано: (2013)