О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия

В данной работе рассмотрена возможность получения тонких пленок InN на пористых
 подложках InP методом радикало-лучевой геттерирующей эпитаксии. Пористый фосфид индия
 получали методом электрохимического травления. На поверхности пористого InP методами
 оже-спектроскопии было...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физическая инженерия поверхности
Date:2010
Main Author: Сычикова, Я.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2010
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98897
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:О перспективности использования пористого фосфида
 индия в качестве подложек для пленок нитрида индия / Я.А. Сычикова // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 3. — С. 228–230. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862623732017659904
author Сычикова, Я.А.
author_facet Сычикова, Я.А.
citation_txt О перспективности использования пористого фосфида
 индия в качестве подложек для пленок нитрида индия / Я.А. Сычикова // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 3. — С. 228–230. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физическая инженерия поверхности
description В данной работе рассмотрена возможность получения тонких пленок InN на пористых
 подложках InP методом радикало-лучевой геттерирующей эпитаксии. Пористый фосфид индия
 получали методом электрохимического травления. На поверхности пористого InP методами
 оже-спектроскопии было доказано образование пленок InN. По результатам оже-спектроскопии, толщина пленки InN составила от 100 нм до 0,5 мкм в зависимости от
 технологических условий. У даній роботі розглянуто можливість отримання плівок InN на поруватих підкладках InP
 методом радикало-променевої гетеруючої епітаксії. Поруватий фосфід індію отримували
 методом електрохімічного травлення. На поверхні поруватого InP методом оже-спектроскопії
 було доведено утворення плівок InN. За результатами оже-спектроскопії, товщина плівок InN
 склала від 100 нм до 0,5 мкм в залежності від технологічних умов травлення. In this paper we consider the possibility of obtaining thin films of InN on porous InP substrates by
 radical-beam gettering epitaxy. Porous InP obtained by electrochemical etching. On the surface of
 porous InP by Auger-spectroscopy has been proven education films InN. According to the results of
 Auger spectroscopy, InN film thickness ranged from 100 nm to 0.5 microns, depending on
 technological conditions.
first_indexed 2025-12-07T13:30:11Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98897
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1999-8074
language Russian
last_indexed 2025-12-07T13:30:11Z
publishDate 2010
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Сычикова, Я.А.
2016-04-19T13:07:01Z
2016-04-19T13:07:01Z
2010
О перспективности использования пористого фосфида
 индия в качестве подложек для пленок нитрида индия / Я.А. Сычикова // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 3. — С. 228–230. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98897
621.315.592; 537.529
В данной работе рассмотрена возможность получения тонких пленок InN на пористых
 подложках InP методом радикало-лучевой геттерирующей эпитаксии. Пористый фосфид индия
 получали методом электрохимического травления. На поверхности пористого InP методами
 оже-спектроскопии было доказано образование пленок InN. По результатам оже-спектроскопии, толщина пленки InN составила от 100 нм до 0,5 мкм в зависимости от
 технологических условий.
У даній роботі розглянуто можливість отримання плівок InN на поруватих підкладках InP
 методом радикало-променевої гетеруючої епітаксії. Поруватий фосфід індію отримували
 методом електрохімічного травлення. На поверхні поруватого InP методом оже-спектроскопії
 було доведено утворення плівок InN. За результатами оже-спектроскопії, товщина плівок InN
 склала від 100 нм до 0,5 мкм в залежності від технологічних умов травлення.
In this paper we consider the possibility of obtaining thin films of InN on porous InP substrates by
 radical-beam gettering epitaxy. Porous InP obtained by electrochemical etching. On the surface of
 porous InP by Auger-spectroscopy has been proven education films InN. According to the results of
 Auger spectroscopy, InN film thickness ranged from 100 nm to 0.5 microns, depending on
 technological conditions.
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
Article
published earlier
spellingShingle О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
Сычикова, Я.А.
title О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
title_full О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
title_fullStr О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
title_full_unstemmed О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
title_short О перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
title_sort о перспективности использования пористого фосфида индия в качестве подложек для пленок нитрида индия
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98897
work_keys_str_mv AT syčikovaâa operspektivnostiispolʹzovaniâporistogofosfidaindiâvkačestvepodložekdlâplenoknitridaindiâ