Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film

A process is described for the growth of thin crystalline TbS films ranging in thickness from 0,3 to
 1,8 µm by flash vacuum thermal evaporation from preliminary synthesed bulk crystal of TbS. The
 films was grown on glass-ceramic, fused silica, sapphire and (111) single-crystal si...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физическая инженерия поверхности
Дата:2010
Автори: Tabatadze, I.G., Jabua, Z.U., Gigineisvili, A.V., Kupreisvili, I.L.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2010
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98913
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film / I.G. Tabatadze, Z.U. Jabua, A.V. Gigineisvili, I.L. Kupreisvili // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 4. — С. 333–335. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862546305782382592
author Tabatadze, I.G.
Jabua, Z.U.
Gigineisvili, A.V.
Kupreisvili, I.L.
author_facet Tabatadze, I.G.
Jabua, Z.U.
Gigineisvili, A.V.
Kupreisvili, I.L.
citation_txt Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film / I.G. Tabatadze, Z.U. Jabua, A.V. Gigineisvili, I.L. Kupreisvili // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 4. — С. 333–335. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физическая инженерия поверхности
description A process is described for the growth of thin crystalline TbS films ranging in thickness from 0,3 to
 1,8 µm by flash vacuum thermal evaporation from preliminary synthesed bulk crystal of TbS. The
 films was grown on glass-ceramic, fused silica, sapphire and (111) single-crystal silicon. Thin films
 had cubic crystal structure (NaCl structure type) with lattice parameters a = 5,52 Å. Разработана технология приготовления тонких кристаллических плёнок толщиной 0,3–1,8 мкм
 методом взрывного вакуумно- термического испарения предварительно синтезированного
 объемного кристалла TbS. Подложками служили пластины из ситала, кварца, сапфира и монокристаллического кремния с ориентацией (111). Плёнки имели кубическую решётку (структурный тип NaCl) с параметром решётки a = 5,52 Å.. Розроблено технологію готування тонких кристалічних плівок товщиною 0,3 – 1,8 мкм методом
 вибухового вакуумно-термічного випару попередньо синтезованого об’ємного кристала TbS.
 Підкладинками слугували пластини із ситалу, кварцу, сапфіра й монокристалічного кремнію
 з орієнтацією (111). Плівки мали кубічні ґрати (структурний тип NaCl) з параметром ґрат
 a = 5,52 Å.
first_indexed 2025-11-25T12:03:36Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98913
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1999-8074
language Russian
last_indexed 2025-11-25T12:03:36Z
publishDate 2010
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Tabatadze, I.G.
Jabua, Z.U.
Gigineisvili, A.V.
Kupreisvili, I.L.
2016-04-19T14:06:18Z
2016-04-19T14:06:18Z
2010
Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film / I.G. Tabatadze, Z.U. Jabua, A.V. Gigineisvili, I.L. Kupreisvili // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 4. — С. 333–335. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98913
546.65:537.226
A process is described for the growth of thin crystalline TbS films ranging in thickness from 0,3 to
 1,8 µm by flash vacuum thermal evaporation from preliminary synthesed bulk crystal of TbS. The
 films was grown on glass-ceramic, fused silica, sapphire and (111) single-crystal silicon. Thin films
 had cubic crystal structure (NaCl structure type) with lattice parameters a = 5,52 Å.
Разработана технология приготовления тонких кристаллических плёнок толщиной 0,3–1,8 мкм
 методом взрывного вакуумно- термического испарения предварительно синтезированного
 объемного кристалла TbS. Подложками служили пластины из ситала, кварца, сапфира и монокристаллического кремния с ориентацией (111). Плёнки имели кубическую решётку (структурный тип NaCl) с параметром решётки a = 5,52 Å..
Розроблено технологію готування тонких кристалічних плівок товщиною 0,3 – 1,8 мкм методом
 вибухового вакуумно-термічного випару попередньо синтезованого об’ємного кристала TbS.
 Підкладинками слугували пластини із ситалу, кварцу, сапфіра й монокристалічного кремнію
 з орієнтацією (111). Плівки мали кубічні ґрати (структурний тип NaCl) з параметром ґрат
 a = 5,52 Å.
Authors express L.A.Ivanovoj’s gratitude for
 the help in carrying out of experiments
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
Article
published earlier
spellingShingle Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
Tabatadze, I.G.
Jabua, Z.U.
Gigineisvili, A.V.
Kupreisvili, I.L.
title Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
title_full Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
title_fullStr Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
title_full_unstemmed Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
title_short Preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
title_sort preparation of terbium monosulfide thin crystalline film
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98913
work_keys_str_mv AT tabatadzeig preparationofterbiummonosulfidethincrystallinefilm
AT jabuazu preparationofterbiummonosulfidethincrystallinefilm
AT gigineisviliav preparationofterbiummonosulfidethincrystallinefilm
AT kupreisviliil preparationofterbiummonosulfidethincrystallinefilm