Особенности формирования многослойных наноразмерных покрытий Со/С при создании рентгеновской изображающей системы работающей на длине волны I = 4,86 нм
Рассмотрены проблемы синтеза, аттестации и термической обработки периодических многослойных рентгеновских зеркал Со/С. Описан метод согласования отражения рентгеновского излучения в пределах полной апертуры двухзеркальной оптической системы-объектива Шварцшильда. Показано, что, установка диафрагмы...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Datum: | 2012 |
| 1. Verfasser: | Бугаев, Е.А. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2012
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98930 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Особенности формирования многослойных наноразмерных покрытий Со/С при создании рентгеновской изображающей системы работающей на длине волны I = 4,86 нм / Е.А. Бугаев // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 59–67. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
О механизме уменьшения трения наноразмерных многослойных покрытий
von: Григорьев, С.Н., et al.
Veröffentlicht: (2013) -
Создание градированного многослойного покрытия Со/С для изображающей системы в диапазоне "углеродного окна" (λ ~ 4,4 – 5,0 нм)
von: Бугаев, Е.А.
Veröffentlicht: (2009) -
Модель диффузного коэффициента вертикального ослабления света на длине волны 490 нм для Черного моря на основе спутниковых данных
von: Суслин, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2011) -
Магниторезистивные свойства многослойных наноразмерных пленочных систем
von: Сынашенко, О.В., et al.
Veröffentlicht: (2009) -
Features of the formation of multilayered nanoscale Co/C coatings when creating an X-ray imaging system operating at a wavelength λ = 4,86 nm
von: E. A. Bugaev
Veröffentlicht: (2012)