Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення

В роботі встановлено вплив дефектів на пороутворення фосфіду індію, основні спостереження зроблено на основі аналізу ямок травлення, які утворюються під час електрохімічної обробки кристалу. Основний метод спостереження – растрова електронна мікроскопія, дозволив простежити дефектну структуру крис...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физическая инженерия поверхности
Date:2012
Main Author: Сичікова, Я.О.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2012
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98934
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення / Я.О. Сичікова // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 85–89. — Бібліогр.: 7 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-98934
record_format dspace
spelling Сичікова, Я.О.
2016-04-19T15:09:42Z
2016-04-19T15:09:42Z
2012
Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення / Я.О. Сичікова // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 85–89. — Бібліогр.: 7 назв. — укр.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98934
539.217; 544.723
В роботі встановлено вплив дефектів на пороутворення фосфіду індію, основні спостереження зроблено на основі аналізу ямок травлення, які утворюються під час електрохімічної обробки кристалу. Основний метод спостереження – растрова електронна мікроскопія, дозволив простежити дефектну структуру кристалу за формою та розміром ямок травлення.
В работе установлено влияние дефектов на порообразование фосфида индия, основные наблюдения сделаны на основе анализа ямок травления, которые образовываются во время электрохимической обработки кристалла. Основной метод наблюдения – растровая электронная микроскопия, разрешил проследить дефектную структуру кристалла по форме и размером ямок травления.
Influence of defects is in process set on порообразование of phosphide of indium, basic supervisions are done on the basis of analysis of fossils etch that appear during electrochemical treatment of crystal. Basic method of supervision – raster electronic microscopy, let to trace the imperfect structure of crystal in due form and measuring fossils of etch.
uk
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
spellingShingle Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
Сичікова, Я.О.
title_short Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_full Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_fullStr Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_full_unstemmed Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_sort дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
author Сичікова, Я.О.
author_facet Сичікова, Я.О.
publishDate 2012
language Ukrainian
container_title Физическая инженерия поверхности
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
format Article
description В роботі встановлено вплив дефектів на пороутворення фосфіду індію, основні спостереження зроблено на основі аналізу ямок травлення, які утворюються під час електрохімічної обробки кристалу. Основний метод спостереження – растрова електронна мікроскопія, дозволив простежити дефектну структуру кристалу за формою та розміром ямок травлення. В работе установлено влияние дефектов на порообразование фосфида индия, основные наблюдения сделаны на основе анализа ямок травления, которые образовываются во время электрохимической обработки кристалла. Основной метод наблюдения – растровая электронная микроскопия, разрешил проследить дефектную структуру кристалла по форме и размером ямок травления. Influence of defects is in process set on порообразование of phosphide of indium, basic supervisions are done on the basis of analysis of fossils etch that appear during electrochemical treatment of crystal. Basic method of supervision – raster electronic microscopy, let to trace the imperfect structure of crystal in due form and measuring fossils of etch.
issn 1999-8074
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98934
citation_txt Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення / Я.О. Сичікова // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 85–89. — Бібліогр.: 7 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT sičíkovaâo doslídžennâdefektnoístrukturifosfíduíndíûzaâmkamitravlennâ
first_indexed 2025-12-07T18:38:15Z
last_indexed 2025-12-07T18:38:15Z
_version_ 1850875781611257856