Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies

• Veröffentlicht in: Физическая инженерия поверхности
• Datum: 2012
• Hauptverfasser: Pylypiv, V.M., Garpul, О.Z., Kotsyubynsky, V.O., Ostafiychuk, B.K., Mokliak, V.V., Kopcewicz, M., Syvorotka, І.І.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2012
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/98976
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies / V.M. Pylypiv, О.Z. Garpul, V.O. Kotsyubynsky, B.K. Ostafiychuk, V.V. Mokliak, M. Kopcewicz, І.І. Syvorotka // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 3. — С. 303–307. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Findings from the investigation of subsurface layers of epitaxial single crystalline yttrium-iron garnet Y₃Fe₅O₁₂ films implanted with Si* ions with the dose of 5.10¹³ cm⁻² and energies of 100 - 150 keV using conversion electron Mossbauer spectroscopy are presented and the comparison with previously obtained results from simulations and x-ray diffractometry studies is carried out. The analysis of profiles and the integral lattice disorder in the subsurface layers confirms the validity of theoretical models used in this work. Висновки з дослідження підповерхневих шарів епітаксіального монокристалічного залізо-ітрієві граната Y₃Fe₅O₁₂ плівок імплантовані іонами Si* з дозою 5.10¹³ см⁻² і енергій 100 - 150 кеВ за допомогою перетворення електронної месбауерівської спектроскопії представлені і порівняння з раніше отриманими результати моделювання і досліджень рентгенівської дифрактометрії здійснюється. Аналіз профілів і інтегральної невпорядкованості решітки в приповерхневих шарах підтверджує правильність теоретичних моделей, що використовуються в даній роботі. Выводы из исследования подповерхностных слоев эпитаксиального монокристаллического железо-иттриевого граната Y₃Fe₅O₁₂ пленок имплантированы ионами Si* с дозой 5.10¹³ см⁻² и энергий 100 - 150 кэВ с помощью преобразования электронной мессбауэровской спектроскопии представлены и сравнения с ранее полученными результаты моделирования и исследований рентгеновской дифрактометрии осуществляется. Анализ профилей и интегральной неупорядоченности решетки в приповерхностных слоях подтверждает правильность теоретических моделей, используемых в данной работе. Remove selected