Влияние дефектов и примесных атомов на физико-механические свойства наноструктурных покрытий в области границ их раздела

С помощью уникальных методов: аннигиляции позитронов, микропучка протонов, Резерфордовского обратного рассеяния (RBS) ионов, микроанализа с помощью EDSX совместно с SEM,
 дифракции рентгеновских лучей (XRD), рентгеновской тензометрии (α-sin²ψ), тестов на нанотвердость, модуль упругости, инд...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физическая инженерия поверхности
Datum:2013
Hauptverfasser: Каверин, М.В., Krause-Rehberg, R., Береснев, В.М., Постольный, Б.А., Колесников, Д.А., Якущенко, И.В., Билокур, М.А., Жоллыбеков, Б.Р.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2013
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/99821
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Влияние дефектов и примесных атомов на физико-механические свойства наноструктурных покрытий в области границ их раздела / М.В. Каверин, R. Krause-Rehberg, В.М. Береснев, Б.А. Постольный, Д.А. Колесников, И.В. Якущенко, М.А. Билокур, Б.Р. Жоллыбеков // Физическая инженерия поверхности. — 2013. — Т. 11, № 2. — С. 160–184. — Бібліогр.: 46 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:С помощью уникальных методов: аннигиляции позитронов, микропучка протонов, Резерфордовского обратного рассеяния (RBS) ионов, микроанализа с помощью EDSX совместно с SEM,
 дифракции рентгеновских лучей (XRD), рентгеновской тензометрии (α-sin²ψ), тестов на нанотвердость, модуль упругости, индекса пластичности и скреч-тестов были исследованы наноструктурные покрытия Ti-Si-N; Ti-Hf-Si-N; (Ti-Hf-Zr-V-Nb)N, выращенные катодным вакуумно-дуговым источником. Были получены профили дефектов по глубине покрытий и изучено влияние
 термического отжига до 600 °С (30 мин) на изменение дефектной структуры, упруго-направленного состояния, фазового состава и перераспределения примесных атомов в результате термодиффузии и процессов сегрегации по границам и субграницам нанозерен. Обнаружено увеличение твердости после отжига, уменьшение величины упруго-деформируемого состояния, перераспределение примесных атомов и дефектов. За допомогою унікальних методів: анігіляції позитронів, мікропучка протонів, Резерфордівського
 оберненого розсіювання (RBS) іонів, мікроаналіза за допомогою EDSX разом із SEM, дифракції
 рентгенівських променів (XRD), рентгенівської тензометрії (α-sin²ψ), тестів на нанотвердість,
 модуль пружності, індекса пластичності та скретч-тестів були досліджені наноструктурні покриття Ti-Si-N; Ti-Hf-Si-N; (Ti-Hf-Zr-V-Nb)N, вирощені катодним вакуумно-дуговим джерелом.
 Були отримані профілі дефектів по товщі покриттів, та досліджений вплив термічного відпалювання до 600 °С (30 хв) на зміну дефектної структури, пружньо-фазового стану, фазового складу
 та перерозподілу домішкових атомів в результаті термодифузії та процесів сегрегації по межам
 та субмежам нанозерен. Знайдено збільшення твердості після відпалювання, зменшення величини пружньо-деформаційного стану, перерозподіл атомів та дефектів. Using unique methods: positron annihilation, proton microbeam, Rutherford backscattering (RBS) of
 ions, microprobe using EDSX with SEM, X-ray diffraction (XRD), X-ray strain measurement
 (α-sin²ψ), tests of nanohardness, elastic modulus, index plasticity and scratch tests were investigated
 nanostructured coatings Ti-Si-N; Ti-Hf-Si-N; (Ti-Hf-Zr-V-Nb)N, grown by cathodic vacuum arc
 source. Defects’ profiles were obtained at all depth of coating, and effect of thermal annealing at
 600 °C (30 min) on the change of the defect structure, elastic-directed state, the phase composition
 and the redistribution of impurity atoms as a result of thermal diffusion and segregation processes
 boundaries and sub-boundaries of nanograins were studied. An increase of hardness after annealing,
 decreasing of the elastic-strain state, the redistribution of impurity atoms and defects were observed.
ISSN:1999-8074