Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe

Методом магнетронного розпилення отримано тонкі плівки CdO на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe та GaSe. Структура плівок досліджена методом рентгеноструктурного аналізу. За допомогою атомно-силовоїмікроскопії проведено дослідження топології
 поверхні отриманих плівок. В...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физическая инженерия поверхности
Datum:2013
1. Verfasser: Кудринський, З.Р.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2013
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/99823
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe / З.Р. Кудринський // Физическая инженерия поверхности. — 2013. — Т. 11, № 2. — С. 185–190. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862555164318105600
author Кудринський, З.Р.
author_facet Кудринський, З.Р.
citation_txt Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe / З.Р. Кудринський // Физическая инженерия поверхности. — 2013. — Т. 11, № 2. — С. 185–190. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.
collection DSpace DC
container_title Физическая инженерия поверхности
description Методом магнетронного розпилення отримано тонкі плівки CdO на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe та GaSe. Структура плівок досліджена методом рентгеноструктурного аналізу. За допомогою атомно-силовоїмікроскопії проведено дослідження топології
 поверхні отриманих плівок. Встановлено, що їх поверхня є наноструктурованою, проте характер
 нарощування плівок на підкладках InSe та GaSe відрізняється. На InSe спостерігаються наноутворення у вигляді окремих пагорбів та їх скупчень. Густина таких наноутворень становить
 ∼2,25⋅10¹⁰ см⁻². Особливістю поверхневої топології плівок CdO на GaSe є те, що наноутворення
 розміщені рівномірно та мають куполоподібний вигляд, причому схильність до утворення скупчень у них відсутня. Оцінка густини такого типу наноутворень показує, що вона становить
 ∼6,4⋅10⁹ см⁻². Методом магнетронного распыления получены тонкие пленки CdO на ван-дер-ваальсовых
 поверхностях слоистых кристаллов InSe и GaSe. Структура пленок исследована методом рентгеноструктурного анализа. С помощью атомно-силовой микроскопии проведено исследование
 топологии поверхности полученных пленок. Установлено, что их поверхность является наноструктурированной, однако характер наращивания пленок на подложках InSe и GaSe отличается.
 На InSe наблюдаются нанообразования в виде отдельных холмов и их скоплений. Плотность
 таких нанообразований составляет ∼2,25⋅10¹⁰ см⁻². Особенностью поверхностной топологии
 пленок CdO на GaSe является то, что нанообразования размещены равномерно и имеют куполообразный вид, причем склонность к образованию скоплений у них отсутствует. Оценка плотности
 такого типа нанообразований показывает, что она составляет ∼6,4⋅10⁹ см⁻². Thin films of CdO were fabricated by dc reactive magnetron sputtering onto van der Waals surfaces
 of InSe and GaSe layered crystals. The structure of the films was studied by X-ray diffraction method.
 Surface topology of the obtained films was investigated by atomic force microscopy. It was established
 that the surface is nanostructured, but the growth of the films differs on InSe and GaSe substrates.
 On InSe substrate one can observe nanoobjects in the form of separate hills and their clusters. The
 density of such nanoobjects is ∼2,25⋅1010 cm–2. The peculiarity of surface topology of CdO films on
 GaSe is that the nanoobjects are distributed uniformly and have domelike shape. There is no tendency
 to formation of clusters of such nanoobjects. It was estimated that the density of these nanoobjects is ∼2,25⋅10¹⁰ cm⁻².Thin films of CdO were fabricated by dc reactive magnetron sputtering onto van der Waals surfaces
 of InSe and GaSe layered crystals. The structure of the films was studied by X-ray diffraction method.
 Surface topology of the obtained films was investigated by atomic force microscopy. It was established
 that the surface is nanostructured, but the growth of the films differs on InSe and GaSe substrates.
 On InSe substrate one can observe nanoobjects in the form of separate hills and their clusters. The
 density of such nanoobjects is ∼2,25⋅1010 cm–2. The peculiarity of surface topology of CdO films on
 GaSe is that the nanoobjects are distributed uniformly and have domelike shape. There is no tendency
 to formation of clusters of such nanoobjects. It was estimated that the density of these nanoobjects is
 ∼6,4⋅10⁹ cm⁻².
first_indexed 2025-11-25T22:20:19Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-99823
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1999-8074
language Ukrainian
last_indexed 2025-11-25T22:20:19Z
publishDate 2013
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Кудринський, З.Р.
2016-05-04T15:29:17Z
2016-05-04T15:29:17Z
2013
Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe / З.Р. Кудринський // Физическая инженерия поверхности. — 2013. — Т. 11, № 2. — С. 185–190. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/99823
621.315.592
Методом магнетронного розпилення отримано тонкі плівки CdO на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe та GaSe. Структура плівок досліджена методом рентгеноструктурного аналізу. За допомогою атомно-силовоїмікроскопії проведено дослідження топології
 поверхні отриманих плівок. Встановлено, що їх поверхня є наноструктурованою, проте характер
 нарощування плівок на підкладках InSe та GaSe відрізняється. На InSe спостерігаються наноутворення у вигляді окремих пагорбів та їх скупчень. Густина таких наноутворень становить
 ∼2,25⋅10¹⁰ см⁻². Особливістю поверхневої топології плівок CdO на GaSe є те, що наноутворення
 розміщені рівномірно та мають куполоподібний вигляд, причому схильність до утворення скупчень у них відсутня. Оцінка густини такого типу наноутворень показує, що вона становить
 ∼6,4⋅10⁹ см⁻².
Методом магнетронного распыления получены тонкие пленки CdO на ван-дер-ваальсовых
 поверхностях слоистых кристаллов InSe и GaSe. Структура пленок исследована методом рентгеноструктурного анализа. С помощью атомно-силовой микроскопии проведено исследование
 топологии поверхности полученных пленок. Установлено, что их поверхность является наноструктурированной, однако характер наращивания пленок на подложках InSe и GaSe отличается.
 На InSe наблюдаются нанообразования в виде отдельных холмов и их скоплений. Плотность
 таких нанообразований составляет ∼2,25⋅10¹⁰ см⁻². Особенностью поверхностной топологии
 пленок CdO на GaSe является то, что нанообразования размещены равномерно и имеют куполообразный вид, причем склонность к образованию скоплений у них отсутствует. Оценка плотности
 такого типа нанообразований показывает, что она составляет ∼6,4⋅10⁹ см⁻².
Thin films of CdO were fabricated by dc reactive magnetron sputtering onto van der Waals surfaces
 of InSe and GaSe layered crystals. The structure of the films was studied by X-ray diffraction method.
 Surface topology of the obtained films was investigated by atomic force microscopy. It was established
 that the surface is nanostructured, but the growth of the films differs on InSe and GaSe substrates.
 On InSe substrate one can observe nanoobjects in the form of separate hills and their clusters. The
 density of such nanoobjects is ∼2,25⋅1010 cm–2. The peculiarity of surface topology of CdO films on
 GaSe is that the nanoobjects are distributed uniformly and have domelike shape. There is no tendency
 to formation of clusters of such nanoobjects. It was estimated that the density of these nanoobjects is ∼2,25⋅10¹⁰ cm⁻².Thin films of CdO were fabricated by dc reactive magnetron sputtering onto van der Waals surfaces
 of InSe and GaSe layered crystals. The structure of the films was studied by X-ray diffraction method.
 Surface topology of the obtained films was investigated by atomic force microscopy. It was established
 that the surface is nanostructured, but the growth of the films differs on InSe and GaSe substrates.
 On InSe substrate one can observe nanoobjects in the form of separate hills and their clusters. The
 density of such nanoobjects is ∼2,25⋅1010 cm–2. The peculiarity of surface topology of CdO films on
 GaSe is that the nanoobjects are distributed uniformly and have domelike shape. There is no tendency
 to formation of clusters of such nanoobjects. It was estimated that the density of these nanoobjects is
 ∼6,4⋅10⁹ cm⁻².
uk
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Физическая инженерия поверхности
Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
Топология поверхности тонких оксидных пленок CdO, сформированных на ван-дер-ваальсовых поверхностях слоистых кристаллов InSe и GaSe
Surface topology of CdO thin oxide films formed on van der waals surfaces of InSe and GaSe layered crystals
Article
published earlier
spellingShingle Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
Кудринський, З.Р.
title Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
title_alt Топология поверхности тонких оксидных пленок CdO, сформированных на ван-дер-ваальсовых поверхностях слоистых кристаллов InSe и GaSe
Surface topology of CdO thin oxide films formed on van der waals surfaces of InSe and GaSe layered crystals
title_full Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
title_fullStr Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
title_full_unstemmed Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
title_short Топологія поверхні тонких оксидних плівок CdO, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів InSe ТА GaSe
title_sort топологія поверхні тонких оксидних плівок cdo, сформованих на ван-дер-ваальсових поверхнях шаруватих кристалів inse та gase
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/99823
work_keys_str_mv AT kudrinsʹkiizr topologíâpoverhnítonkihoksidnihplívokcdosformovanihnavandervaalʹsovihpoverhnâhšaruvatihkristalívinsetagase
AT kudrinsʹkiizr topologiâpoverhnostitonkihoksidnyhplenokcdosformirovannyhnavandervaalʹsovyhpoverhnostâhsloistyhkristallovinseigase
AT kudrinsʹkiizr surfacetopologyofcdothinoxidefilmsformedonvanderwaalssurfacesofinseandgaselayeredcrystals