Okhrimenko, O. (2014). Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Okhrimenko, O.B. Variation of Optical Parameters of Multilayer Structures with Thin Silicon Layers at Laser Annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Okhrimenko, O.B. Variation of Optical Parameters of Multilayer Structures with Thin Silicon Layers at Laser Annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.