Okhrimenko, O. (2014). Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Okhrimenko, O.B. Variation of Optical Parameters of Multilayer Structures with Thin Silicon Layers at Laser Annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Okhrimenko, O.B. Variation of Optical Parameters of Multilayer Structures with Thin Silicon Layers at Laser Annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.