Okhrimenko, O. (2014). Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationOkhrimenko, O.B. Variation of Optical Parameters of Multilayer Structures with Thin Silicon Layers at Laser Annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014.
MLA (8th ed.) CitationOkhrimenko, O.B. Variation of Optical Parameters of Multilayer Structures with Thin Silicon Layers at Laser Annealing. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.