АНАЛІТИЧНІ ОСНОВИ ПОЛЯРИЗАЦІЙНОГО КАРТОГРАФУВАННЯ БАГАТОШАРОВИХ ДВОПРОМЕНЕ- ЗАЛОМЛЮЮЧИХ ПОЛІКРИСТАЛІЧНИХ МЕРЕЖ
Розглянуто взаємозв’язок між Мюллер-матричним і поляризаційним картографуванням багатошарових двопроменезаломлюючих мереж. На основі моделювання координатних розподілів азимутів і еліптичностей двопроменезаломлюючих багатошарових мереж виявлені взаємозв’язки між їх статистичними, кореляційними і фр...
Gespeichert in:
| Datum: | 2013 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Vinnytsia National Technical University
2013
|
| Online Zugang: | https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/235 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Optoelectronic Information-Power Technologies |