Похибки вимірювань референтних матриць Мюллера в системі Мюллер-матричного картографування біологічних шарів

Analysis of errors experimental determination values of the elements of the Mueller matrix layer structures with linear birefringence in the two-dimensional mapping Mueller-matrix system within the statistics, correlation and fractal approaches was presented in this article.

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автор: Заболотна, Н. І.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Vinnytsia National Technical University 2015
Теми:
Онлайн доступ:https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/409
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Optoelectronic Information-Power Technologies

Репозитарії

Optoelectronic Information-Power Technologies