Похибки вимірювань референтних матриць Мюллера в системі Мюллер-матричного картографування біологічних шарів

• Datum: 2015
• 1. Verfasser: Заболотна, Н. І.
• Format: Artikel
• Sprache: Ukrainisch
• Veröffentlicht: Vinnytsia National Technical University 2015
• Schlagworte: елементи матриці Мюллера; референтна матриця; система двовимірного Мюллер-матричного картографування; фазозсуваюча пластинка з лінійним двопроменезаломленням; похибки; статистичний; кореляційний; фрактальний аналіз
• Online Zugang: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/409
• Назва журналу: Optoelectronic Information-Power Technologies

Analysis of errors experimental determination values of the elements of the Mueller matrix layer structures with linear birefringence in the two-dimensional mapping Mueller-matrix system within the statistics, correlation and fractal approaches was presented in this article.