Похибки вимірювань референтних матриць Мюллера в системі Мюллер-матричного картографування біологічних шарів

• Date: 2015
• Main Author: Заболотна, Н. І.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Vinnytsia National Technical University 2015
• Subjects: елементи матриці Мюллера; референтна матриця; система двовимірного Мюллер-матричного картографування; фазозсуваюча пластинка з лінійним двопроменезаломленням; похибки; статистичний; кореляційний; фрактальний аналіз
• Online Access: https://oeipt.vntu.edu.ua/index.php/oeipt/article/view/409
• Journal Title: Optoelectronic Information-Power Technologies

Analysis of errors experimental determination values of the elements of the Mueller matrix layer structures with linear birefringence in the two-dimensional mapping Mueller-matrix system within the statistics, correlation and fractal approaches was presented in this article.