Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца
The analysis of electrical schemes-analogues is present to determine the kinetic parameters of surfaces, interfaces, and bulk of thin films within the bilayer Petritz model. Electrical properties of surface layers for just gown annealed in vacuum and in oxygen atmosphere, and under prolonged exposur...
Gespeichert in:
| Datum: | 2011 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
Chuiko Institute of Surface Chemistry National Academy of Sciences of Ukraine
2011
|
| Online Zugang: | https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/104 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Chemistry, Physics and Technology of Surface |
Institution
Chemistry, Physics and Technology of Surface| _version_ | 1856543772819587072 |
|---|---|
| author | Freik, D. M. Dzundza, B. S. Klanichka, Yu. V. Bachuk, V. V. Yavorsky, Ya. S. |
| author_facet | Freik, D. M. Dzundza, B. S. Klanichka, Yu. V. Bachuk, V. V. Yavorsky, Ya. S. |
| author_sort | Freik, D. M. |
| baseUrl_str | |
| collection | OJS |
| datestamp_date | 2022-06-29T10:23:46Z |
| description | The analysis of electrical schemes-analogues is present to determine the kinetic parameters of surfaces, interfaces, and bulk of thin films within the bilayer Petritz model. Electrical properties of surface layers for just gown annealed in vacuum and in oxygen atmosphere, and under prolonged exposure to air of thin films of lead chalcogenides are investigated. The results are explained on the basis of physical and chemical processes associated with batch fractionation, re-evaporation of chalcogen, and the influence of oxygen acceptor. |
| first_indexed | 2025-07-22T19:30:17Z |
| format | Article |
| id | oai:ojs.pkp.sfu.ca:article-104 |
| institution | Chemistry, Physics and Technology of Surface |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-17T12:06:41Z |
| publishDate | 2011 |
| publisher | Chuiko Institute of Surface Chemistry National Academy of Sciences of Ukraine |
| record_format | ojs |
| spelling | oai:ojs.pkp.sfu.ca:article-1042022-06-29T10:23:46Z Effect of Surface on Kinetic Parameters of Compounds AIVBVI Thin Films within the Petritz Model Влияние поверхности на кинетические параметры тонких пленок соединений АIVВVI в рамках модели Петрица Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца Freik, D. M. Dzundza, B. S. Klanichka, Yu. V. Bachuk, V. V. Yavorsky, Ya. S. The analysis of electrical schemes-analogues is present to determine the kinetic parameters of surfaces, interfaces, and bulk of thin films within the bilayer Petritz model. Electrical properties of surface layers for just gown annealed in vacuum and in oxygen atmosphere, and under prolonged exposure to air of thin films of lead chalcogenides are investigated. The results are explained on the basis of physical and chemical processes associated with batch fractionation, re-evaporation of chalcogen, and the influence of oxygen acceptor. Приведен анализ электрических схем-аналогов для определения кинетических параметров поверхностей межфазных границ и объема тонких пленок в рамках двухслойной модели Петрица. Исследованы электрические свойства приповерхностных слоев для свежевыращенных, отожженных в вакууме и атмосфере кислорода, а также при длительной выдержке на воздухе тонких пленок халькогенидов свинца. Полученные результаты объяснены на основе физико-химических процессов, связанных с фракционированием навески, реиспарением халькогена и акцепторным воздействием кислорода. Наведено аналіз електричних схем-аналогів для визначення кінетичних параметрів поверхонь міжфазних меж і об'єму тонких плівок у рамках двошарової моделі Петріца. Досліджено електричні властивості приповерхневих шарів для свіжовирощених, відпалених у вакуумі та атмосфері кисню, а також при тривалій витримці на повітрі тонких плівок халькогенідів свинцю. Отримані результати пояснено на основі фізико-хімічних процесів, пов'язаних з фракціюванням наважки, ревипаровуванням халькогену та акцепторним впливом кисню. Chuiko Institute of Surface Chemistry National Academy of Sciences of Ukraine 2011-08-01 Article Article application/pdf https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/104 Chemistry, Physics and Technology of Surface; Vol. 2 No. 3 (2011): Chemistry, Physics and Technology of Surface / Himia, Fizika ta Tehnologia Poverhni; 289-295 Химия, физика и технология поверхности; Том 2 № 3 (2011): Химия, физика и технология поверхности; 289-295 Хімія, фізика та технологія поверхні; Том 2 № 3 (2011): Хімія, фізика та технологія поверхні; 289-295 2518-1238 2079-1704 uk https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/104/101 Copyright (c) 2011 D. M. Freik, B. S. Dzundza, Yu. V. Klanichka, V. V. Bachuk, Ya. S. Yavorsky |
| spellingShingle | Freik, D. M. Dzundza, B. S. Klanichka, Yu. V. Bachuk, V. V. Yavorsky, Ya. S. Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца |
| title | Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца |
| title_alt | Effect of Surface on Kinetic Parameters of Compounds AIVBVI Thin Films within the Petritz Model Влияние поверхности на кинетические параметры тонких пленок соединений АIVВVI в рамках модели Петрица |
| title_full | Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца |
| title_fullStr | Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца |
| title_full_unstemmed | Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца |
| title_short | Вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук АIVВVI в рамках моделі Петріца |
| title_sort | вплив поверхні на кінетичні параметри тонких плівок сполук аivвvi в рамках моделі петріца |
| url | https://www.cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/104 |
| work_keys_str_mv | AT freikdm effectofsurfaceonkineticparametersofcompoundsaivbvithinfilmswithinthepetritzmodel AT dzundzabs effectofsurfaceonkineticparametersofcompoundsaivbvithinfilmswithinthepetritzmodel AT klanichkayuv effectofsurfaceonkineticparametersofcompoundsaivbvithinfilmswithinthepetritzmodel AT bachukvv effectofsurfaceonkineticparametersofcompoundsaivbvithinfilmswithinthepetritzmodel AT yavorskyyas effectofsurfaceonkineticparametersofcompoundsaivbvithinfilmswithinthepetritzmodel AT freikdm vliâniepoverhnostinakinetičeskieparametrytonkihplenoksoedinenijaivvvivramkahmodelipetrica AT dzundzabs vliâniepoverhnostinakinetičeskieparametrytonkihplenoksoedinenijaivvvivramkahmodelipetrica AT klanichkayuv vliâniepoverhnostinakinetičeskieparametrytonkihplenoksoedinenijaivvvivramkahmodelipetrica AT bachukvv vliâniepoverhnostinakinetičeskieparametrytonkihplenoksoedinenijaivvvivramkahmodelipetrica AT yavorskyyas vliâniepoverhnostinakinetičeskieparametrytonkihplenoksoedinenijaivvvivramkahmodelipetrica AT freikdm vplivpoverhnínakínetičníparametritonkihplívokspolukaivvvivramkahmodelípetríca AT dzundzabs vplivpoverhnínakínetičníparametritonkihplívokspolukaivvvivramkahmodelípetríca AT klanichkayuv vplivpoverhnínakínetičníparametritonkihplívokspolukaivvvivramkahmodelípetríca AT bachukvv vplivpoverhnínakínetičníparametritonkihplívokspolukaivvvivramkahmodelípetríca AT yavorskyyas vplivpoverhnínakínetičníparametritonkihplívokspolukaivvvivramkahmodelípetríca |