АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА

The study of electric field in the cross-linked polyethylene insulation of medium-voltage cable (10 kV) with typical defects of semiconducting insulating layers is carried out by computer modeling. The defects are associated with the technological faults, operating conditions, electrical and environ...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2025
1. Verfasser: Кучерява, І.М.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут електродинаміки НАН України, Київ 2025
Schlagworte:
Online Zugang:https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1702
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technical Electrodynamics

Institution

Technical Electrodynamics
id oai:ojs.pkp.sfu.ca:article-1702
record_format ojs
spelling oai:ojs.pkp.sfu.ca:article-17022025-09-10T10:45:10Z ANALYSIS OF ELECTRIC FIELD IN CROSS-LINKED POLYETHYLENE INSULATED CABLES WITH TYPICAL DEFECTS OF SEMICONDUCTING SHIELD АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА Кучерява, І.М. power cable medium voltage cross-linked polyethylene (XLPE) insulation semiconducting shield typical defects insulation ageing electric field computer modeling силовий кабель середня напруга зшито-поліетиленова (ЗПЕ) ізоляція напівпровідні екрани характерні дефекти старіння ізоляції електричне поле комп’ютерне моделювання The study of electric field in the cross-linked polyethylene insulation of medium-voltage cable (10 kV) with typical defects of semiconducting insulating layers is carried out by computer modeling. The defects are associated with the technological faults, operating conditions, electrical and environmental aging. The model is built as a quasi-electrostatic approximation for the axial-symmetric representation of the cable. The volume defect with the loss of cable sealing and with the destruction of the metal screen and part of main insulation, when the electric field spreads into the surrounding medium, is also considered. The non-uniform distribution of the electric field in the insulation, the nature of field variation and the level of field enhancement depending on the defects are analyzed. The results of the numerical study ground the causes of polyethylene insulation aging as well as the risk of the considered defects for the dielectric strength of the insulation and its reliable long-term operation. References 17, figures 3. За допомогою комп’ютерного моделювання проведено дослідження електричного поля в зшито-поліетиленовій ізоляції кабелю середньої напруги (10 кВ) з типовими дефектами напівпровідних ізоляційних шарів. Дефекти пов’язані з технологічними відхиленнями, експлуатаційними умовами, електричним старінням та навантаженням навколишнього середовища. Модель побудовано в квазіелектростатичному наближенні для осесиметричного представлення кабелю. Розглянуто також об’ємний дефект з порушенням герметизації кабелю, руйнуванням металевого екрана і частини основної ізоляції, у разі чого електричне поле поширюється в оточуюче середовище. Проаналізовано нерівномірність розподілу електричного поля в ізоляції, характер змінення і рівень його посилення залежно від розглянутих дефектів. За результатами чисельного дослідження пояснено причини старіння поліетиленової ізоляції силових кабелів та оцінено ризик наявності розглянутих дефектів для електричної міцності ізоляції і довготривалого надійного функціонування. Бібл. 17, рис. 3. Інститут електродинаміки НАН України, Київ 2025-09-04 Article Article application/pdf https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1702 10.15407/techned2025.05.003 Tekhnichna Elektrodynamika; No. 5 (2025): TEKHNICHNA ELEKTRODYNAMIKA; 003 ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА; № 5 (2025): ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА; 003 2218-1903 1607-7970 10.15407/techned2025.05 uk https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1702/1544 Авторське право (c) 2025 ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
institution Technical Electrodynamics
baseUrl_str
datestamp_date 2025-09-10T10:45:10Z
collection OJS
language Ukrainian
topic силовий кабель
середня напруга
зшито-поліетиленова (ЗПЕ) ізоляція
напівпровідні екрани
характерні дефекти
старіння ізоляції
електричне поле
комп’ютерне моделювання
spellingShingle силовий кабель
середня напруга
зшито-поліетиленова (ЗПЕ) ізоляція
напівпровідні екрани
характерні дефекти
старіння ізоляції
електричне поле
комп’ютерне моделювання
Кучерява, І.М.
АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА
topic_facet power cable
medium voltage
cross-linked polyethylene (XLPE) insulation
semiconducting shield
typical defects
insulation ageing
electric field
computer modeling
силовий кабель
середня напруга
зшито-поліетиленова (ЗПЕ) ізоляція
напівпровідні екрани
характерні дефекти
старіння ізоляції
електричне поле
комп’ютерне моделювання
format Article
author Кучерява, І.М.
author_facet Кучерява, І.М.
author_sort Кучерява, І.М.
title АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА
title_short АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА
title_full АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА
title_fullStr АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА
title_full_unstemmed АНАЛІЗ ЕЛЕКТРИЧНОГО ПОЛЯ СИЛОВИХ КАБЕЛІВ ІЗ ЗШИТО-ПОЛІЕТИЛЕНОВОЮ ІЗОЛЯЦІЄЮ ЗА НАЯВНОСТІ ТИПОВИХ ДЕФЕКТІВ НАПІВПРОВІДНОГО ЕКРАНА
title_sort аналіз електричного поля силових кабелів із зшито-поліетиленовою ізоляцією за наявності типових дефектів напівпровідного екрана
title_alt ANALYSIS OF ELECTRIC FIELD IN CROSS-LINKED POLYETHYLENE INSULATED CABLES WITH TYPICAL DEFECTS OF SEMICONDUCTING SHIELD
description The study of electric field in the cross-linked polyethylene insulation of medium-voltage cable (10 kV) with typical defects of semiconducting insulating layers is carried out by computer modeling. The defects are associated with the technological faults, operating conditions, electrical and environmental aging. The model is built as a quasi-electrostatic approximation for the axial-symmetric representation of the cable. The volume defect with the loss of cable sealing and with the destruction of the metal screen and part of main insulation, when the electric field spreads into the surrounding medium, is also considered. The non-uniform distribution of the electric field in the insulation, the nature of field variation and the level of field enhancement depending on the defects are analyzed. The results of the numerical study ground the causes of polyethylene insulation aging as well as the risk of the considered defects for the dielectric strength of the insulation and its reliable long-term operation. References 17, figures 3.
publisher Інститут електродинаміки НАН України, Київ
publishDate 2025
url https://techned.org.ua/index.php/techned/article/view/1702
work_keys_str_mv AT kučerâvaím analysisofelectricfieldincrosslinkedpolyethyleneinsulatedcableswithtypicaldefectsofsemiconductingshield
AT kučerâvaím analízelektričnogopolâsilovihkabelívízzšitopolíetilenovoûízolâcíêûzanaâvnostítipovihdefektívnapívprovídnogoekrana
first_indexed 2025-12-02T15:21:30Z
last_indexed 2025-12-02T15:21:30Z
_version_ 1850410418059608064