ПРОБЛЕМИ РОЗВИТКУ МЕТОДУ РЕНТГЕНІВСЬКОЇ ФОТОЕЛЕКТРОННОЇ СПЕКТРОСКОПІЇ В УКРАЇНІ
The article is devoted to the development problems of the X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) method in Ukraine. XPS is a modern method for studying the electronic structure of atoms. The XPS method is used at all stages of the synthesis and study of materials, the functional properties of which...
Saved in:
| Date: | 2021 |
|---|---|
| Main Authors: | Korduban, Oleksandr, Ogenko, Volodymyr, Kryshchuk, Taras |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
V.I.Vernadsky Institute of General and Inorganic Chemistry
2021
|
| Online Access: | https://ucj.org.ua/index.php/journal/article/view/273 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Ukrainian Chemistry Journal |
Institution
Ukrainian Chemistry JournalSimilar Items
-
Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії
by: Куцай, О.М.
Published: (2011) -
СИНТЕЗ ГРАФЕНОПОДІБНИХ СТРУКТУР ПЛАЗМО-ДУГОВИМ РОЗРЯДОМ У СЕРЕДОВИЩІ РІДКОГО АЗОТУ
by: Panteleimonov, Radyslav, et al.
Published: (2020) -
Математичні методи рентгенівської комп’ютерної томографії
by: Тулякова, Н.О., et al.
Published: (2019) -
Мінімізація дозового навантаження в алгоритмах рентгенівської комп’ютерної томографії
by: Bulavin, L. A., et al.
Published: (2019) -
Позиційно-чутливий кремнієвий детектор для рентгенівської дифрактометрії швидкоплинних процесів
by: Пугач, В.М.
Published: (2014)