ВИКОРИСТАННЯ РЕНТГЕНІВСЬКОЇ ТОПОГРАФІЇ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ РЕАЛЬНОЇ СТРУКТУРИ НРНТ-МОНОКРИСТАЛІВ АЛМАЗУ ТИПУ ІІа

ВИКОРИСТАННЯ РЕНТГЕНІВСЬКОЇ ТОПОГРАФІЇ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ РЕАЛЬНОЇ СТРУКТУРИ НРНТ-МОНОКРИСТАЛІВ АЛМАЗУ ТИПУ ІІа

Features of the internal structure were studied using X-ray topography and the method of selective etching. Sectional topograms of the crystal were obtained - the original image and its appearance in reverse contrast. The obtained topogram pictures demonstrate the physical faces of the crystal, grow...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2024
Hauptverfasser: Супрун, Олена, Коваленко, Тетяна, Заневський , Олег, Бурченя, Андрій, Клочок, Вячеслав, Марченко, Антон, Тімченко, Олексій
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Институт сверхтвердых материалов им. В. Н. Бакуля Национальной академии наук Украины 2024
Schlagworte:
монокристал алмазу
травлення кристалів
грань
дефекти в монокристалах алмазу
рентгенівська топографія
дислокація
дислокаційна структура.
Online Zugang:http://altis-ism.org.ua/index.php/ALTIS/article/view/348
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Tooling materials science

Institution

Tooling materials science

Online

http://altis-ism.org.ua/index.php/ALTIS/article/view/348

Ähnliche Einträge