ВИКОРИСТАННЯ РЕНТГЕНІВСЬКОЇ ТОПОГРАФІЇ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ РЕАЛЬНОЇ СТРУКТУРИ НРНТ-МОНОКРИСТАЛІВ АЛМАЗУ ТИПУ ІІа

• Datum: 2024
• Hauptverfasser: Супрун, Олена, Коваленко, Тетяна, Заневський , Олег, Бурченя, Андрій, Клочок, Вячеслав, Марченко, Антон, Тімченко, Олексій
• Format: Artikel
• Sprache: Ukrainisch
• Veröffentlicht: Институт сверхтвердых материалов им. В. Н. Бакуля Национальной академии наук Украины 2024
• Schlagworte: монокристал алмазу; травлення кристалів; грань; дефекти в монокристалах алмазу; рентгенівська топографія; дислокація; дислокаційна структура.
• Online Zugang: http://altis-ism.org.ua/index.php/ALTIS/article/view/348
• Назва журналу: Tooling materials science

Features of the internal structure were studied using X-ray topography and the method of selective etching. Sectional topograms of the crystal were obtained - the original image and its appearance in reverse contrast. The obtained topogram pictures demonstrate the physical faces of the crystal, grow...