АВТОНОМНА БЕЗВІБРАЦІЙНА ТЕРМОРЕГУЛЬОВАНА КРІОСИСТЕМА ДЛЯ ОПТИЧНИХ ДОСЛІДЖЕНЬ НА СПЕКТРАЛЬНОМУ ЕЛІПСОМЕТРІ

Introduction. Ellipsometry is a highly sensitive, non-destructive optical method used to study the optical and structural properties of materials and thin films.Problem Statement. At the Institute of Semiconductor Physics of the National Academy of Sciences of Ukraine, the first in Ukraine serial sp...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2024
Hauptverfasser: ZHARKOV, I., SAFRONOV, V., KHODUNOV, V., KONOVAL, V., PALAMARCHUK, I., SELIVANOV, O., SOLONETSKY, A., MAMYKIN, S., YASTRUBCHAK, O., ROMANYUK, V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: PH “Akademperiodyka” 2024
Schlagworte:
Online Zugang:https://scinn-eng.org.ua/ojs/index.php/ni/article/view/577
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Science and Innovation

Institution

Science and Innovation

Ähnliche Einträge