Savkina, M. (2023). Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду. Інститут прикладних проблем механіки і математики ім. Я. С. Підстригача НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Savkina, Marta. Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду. Інститут прикладних проблем механіки і математики ім. Я. С. Підстригача НАН України, 2023.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Savkina, Marta. Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду. Інститут прикладних проблем механіки і математики ім. Я. С. Підстригача НАН України, 2023.