Рівність оцінок МНК та Ейткена параметра лінійної моделі регресії, коли коваріаційна матриця відхилень є симетричною матрицею Тепліца загального вигляду

• Date: 2023
• Main Author: Savkina, Marta
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Інститут прикладних проблем механіки і математики ім. Я. С. Підстригача НАН України 2023
• Subjects: регресійна модель; метод найменших квадратів; оцінка Ейткена
• Online Access: https://www.fmmit.lviv.ua/index.php/fmmit/article/view/314
• Journal Title: Physico-mathematical modeling and informational technologies

In this paper, we study a regression model whose function has the form  f(x)=ax+b, where a and  b - unknown parameters, and the covariance matrix of deviations is a symmetric Toeplitz matrix of the general form. Approximate values (obs...