Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"

The dependence of the electrophysical parameters of RuO2–glass thick-film resistive structures on component dispersion and firing temperature has been investigated. It has been shown that the resistance of the layers can be varied by changing the particle size of the initial components. The use of...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2005
Автори: Kurmashev, Sh. D., Sadova, N. N., Lavrenova, T. I., Bugayeva, T. N.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2005
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.4.62
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment
_version_ 1863674025318809600
author Kurmashev, Sh. D.
Sadova, N. N.
Lavrenova, T. I.
Bugayeva, T. N.
author_facet Kurmashev, Sh. D.
Sadova, N. N.
Lavrenova, T. I.
Bugayeva, T. N.
author_sort Kurmashev, Sh. D.
baseUrl_str https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/oai
collection OJS
datestamp_date 2026-04-27T20:05:22Z
description The dependence of the electrophysical parameters of RuO2–glass thick-film resistive structures on component dispersion and firing temperature has been investigated. It has been shown that the resistance of the layers can be varied by changing the particle size of the initial components. The use of homogeneous powders of the starting materials increases the adhesion strength of the film to the substrate.
first_indexed 2026-04-28T01:00:52Z
format Article
id oai:tkea.com.ua:article-1040
institution Technology and design in electronic equipment
keywords_txt_mv keywords
language Ukrainian
last_indexed 2026-04-28T01:00:52Z
publishDate 2005
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-10402026-04-27T20:05:22Z Investigation of reproducibility of electrophysical parameters of RuO2–glass thick-film structures Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло" Kurmashev, Sh. D. Sadova, N. N. Lavrenova, T. I. Bugayeva, T. N. integrated circuits resistive films component dispersion интегральные схемы резистивные пленки дисперсность компонентов The dependence of the electrophysical parameters of RuO2–glass thick-film resistive structures on component dispersion and firing temperature has been investigated. It has been shown that the resistance of the layers can be varied by changing the particle size of the initial components. The use of homogeneous powders of the starting materials increases the adhesion strength of the film to the substrate. Исследована зависимость электрофизических параметров толстопленочных резистивных структур "RuO2 – стекло" от дисперсности компонентов и температуры вжигания. Показана возможность варьирования сопротивления слоев за счет изменения размеров частиц исходных компонентов. Использование гомогенных порошков исходных материалов увеличивает силу сцепления пленки с подложкой. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2005-08-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.4.62 Technology and design in electronic equipment; No. 4 (2005): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 62-64 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 4 (2005): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 62-64 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.4.62/949 Copyright (c) 2005 Kurmashev Sh. D., Sadova N. N., Lavrenova T. I., Bugayeva T. N. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
spellingShingle интегральные схемы
резистивные пленки
дисперсность компонентов
Kurmashev, Sh. D.
Sadova, N. N.
Lavrenova, T. I.
Bugayeva, T. N.
Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
title Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
title_alt Investigation of reproducibility of electrophysical parameters of RuO2–glass thick-film structures
title_full Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
title_fullStr Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
title_full_unstemmed Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
title_short Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
title_sort исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "ruo2-стекло"
topic интегральные схемы
резистивные пленки
дисперсность компонентов
topic_facet integrated circuits
resistive films
component dispersion
интегральные схемы
резистивные пленки
дисперсность компонентов
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.4.62
work_keys_str_mv AT kurmashevshd investigationofreproducibilityofelectrophysicalparametersofruo2glassthickfilmstructures
AT sadovann investigationofreproducibilityofelectrophysicalparametersofruo2glassthickfilmstructures
AT lavrenovati investigationofreproducibilityofelectrophysicalparametersofruo2glassthickfilmstructures
AT bugayevatn investigationofreproducibilityofelectrophysicalparametersofruo2glassthickfilmstructures
AT kurmashevshd issledovanievosproizvodimostiélektrofizičeskihparametrovtolstoplenočnyhstrukturquotruo2stekloquot
AT sadovann issledovanievosproizvodimostiélektrofizičeskihparametrovtolstoplenočnyhstrukturquotruo2stekloquot
AT lavrenovati issledovanievosproizvodimostiélektrofizičeskihparametrovtolstoplenočnyhstrukturquotruo2stekloquot
AT bugayevatn issledovanievosproizvodimostiélektrofizičeskihparametrovtolstoplenočnyhstrukturquotruo2stekloquot