Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения

The effect of heat treatment (HT) on the electrophysical properties of γ-ray detectors based on a p-type CdZnTe semiconductor compound was investigated. The optimal HT conditions were determined. It was shown that the application of HT allows for a significant reduction in leakage current and an inc...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2005
Автори: Kutniy, V. E., Kutniy, D. V., Rybka, A. V., Abyzov, A. S., Davydov, L. N., Nakonechny, D. V., Shlyakhov, I. N.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2005
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.3.12
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment
_version_ 1863855184659087360
author Kutniy, V. E.
Kutniy, D. V.
Rybka, A. V.
Abyzov, A. S.
Davydov, L. N.
Nakonechny, D. V.
Shlyakhov, I. N.
author_facet Kutniy, V. E.
Kutniy, D. V.
Rybka, A. V.
Abyzov, A. S.
Davydov, L. N.
Nakonechny, D. V.
Shlyakhov, I. N.
author_sort Kutniy, V. E.
baseUrl_str https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/oai
collection OJS
datestamp_date 2026-04-29T08:08:45Z
description The effect of heat treatment (HT) on the electrophysical properties of γ-ray detectors based on a p-type CdZnTe semiconductor compound was investigated. The optimal HT conditions were determined. It was shown that the application of HT allows for a significant reduction in leakage current and an increase in operating voltage, which contributes to an improvement in the spectrometric characteristics of the detector. Experimental results are presented demonstrating that the change in the detector’s characteristics is largely due to modification of the metal-semiconductor interface rather than changes in the properties of the side surface.
first_indexed 2026-04-30T01:00:19Z
format Article
id oai:tkea.com.ua:article-1044
institution Technology and design in electronic equipment
keywords_txt_mv keywords
language Ukrainian
last_indexed 2026-04-30T01:00:19Z
publishDate 2005
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-10442026-04-29T08:08:45Z The effect of heat treatment on the electrophysical properties of CdZnTe gamma-ray detectors Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения Kutniy, V. E. Kutniy, D. V. Rybka, A. V. Abyzov, A. S. Davydov, L. N. Nakonechny, D. V. Shlyakhov, I. N. semiconductor detector CdZnTe current-voltage characteristic ohmic contact metal-semiconductor junction полупроводниковый детектор CdZnTe вольт-амперная характеристика омический контакт структура The effect of heat treatment (HT) on the electrophysical properties of γ-ray detectors based on a p-type CdZnTe semiconductor compound was investigated. The optimal HT conditions were determined. It was shown that the application of HT allows for a significant reduction in leakage current and an increase in operating voltage, which contributes to an improvement in the spectrometric characteristics of the detector. Experimental results are presented demonstrating that the change in the detector’s characteristics is largely due to modification of the metal-semiconductor interface rather than changes in the properties of the side surface. Исследовано влияние термообработки (ТО) на электрофизические свойства датчиков γ-излучения на основе полупроводникового соединения CdZnTe p-типа. Определен оптимальный режим ТО. Показано, что применение ТО позволяет значительно снизить ток утечки и повысить рабочее напряжение, что способствует улучшению спектрометрических характеристик датчика. Приведены экспериментальные результаты, демонстрирующие, что изменение характеристик детектора в большей степени обусловлено модификацией границы раздела "металл-полупроводник", чем изменением свойств боковой поверхности. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2005-06-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.3.12 Technology and design in electronic equipment; No. 3 (2005): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 12-15 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 3 (2005): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 12-15 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.3.12/953 Copyright (c) 2005 Kutniy V. E., Kutniy D. V., Rybka A. V., Abyzov A. S., Davydov L. N., Nakonechny D. V., Shlyakhov I. N. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
spellingShingle полупроводниковый детектор
CdZnTe
вольт-амперная характеристика
омический контакт
структура
Kutniy, V. E.
Kutniy, D. V.
Rybka, A. V.
Abyzov, A. S.
Davydov, L. N.
Nakonechny, D. V.
Shlyakhov, I. N.
Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения
title Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения
title_alt The effect of heat treatment on the electrophysical properties of CdZnTe gamma-ray detectors
title_full Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения
title_fullStr Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения
title_full_unstemmed Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения
title_short Влияние термообработки на электрофизические свойства CdZnTe-детекторов γ-излучения
title_sort влияние термообработки на электрофизические свойства cdznte-детекторов γ-излучения
topic полупроводниковый детектор
CdZnTe
вольт-амперная характеристика
омический контакт
структура
topic_facet semiconductor detector
CdZnTe
current-voltage characteristic
ohmic contact
metal-semiconductor junction
полупроводниковый детектор
CdZnTe
вольт-амперная характеристика
омический контакт
структура
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2005.3.12
work_keys_str_mv AT kutniyve theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT kutniydv theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT rybkaav theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT abyzovas theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT davydovln theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT nakonechnydv theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT shlyakhovin theeffectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT kutniyve vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT kutniydv vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT rybkaav vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT abyzovas vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT davydovln vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT nakonechnydv vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT shlyakhovin vliânietermoobrabotkinaélektrofizičeskiesvojstvacdzntedetektorovgizlučeniâ
AT kutniyve effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT kutniydv effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT rybkaav effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT abyzovas effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT davydovln effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT nakonechnydv effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors
AT shlyakhovin effectofheattreatmentontheelectrophysicalpropertiesofcdzntegammaraydetectors