Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа

The assembly processes of MOSFET transistors in the SMD-1 metal-ceramic package were investigated in comparison with the SMD-220 metal-plastic package. Results regarding electrical and thermal parameters are presented. It is shown that the “p-n junction–package” thermal resistance is higher for SMD-...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автори: Rubtsevitch, I. I., Anufriev, L. P., Kerentsev, A. F.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004
Теми:
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.5.54
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment
_version_ 1864489363572785152
author Rubtsevitch, I. I.
Anufriev, L. P.
Kerentsev, A. F.
author_facet Rubtsevitch, I. I.
Anufriev, L. P.
Kerentsev, A. F.
author_sort Rubtsevitch, I. I.
baseUrl_str https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/oai
collection OJS
datestamp_date 2026-05-06T11:52:10Z
description The assembly processes of MOSFET transistors in the SMD-1 metal-ceramic package were investigated in comparison with the SMD-220 metal-plastic package. Results regarding electrical and thermal parameters are presented. It is shown that the “p-n junction–package” thermal resistance is higher for SMD-1; however, the thermal conductivity consistency of the SMD-1 package components allows for the manufacture of devices with minimal internal stresses and ensures their high hermeticity and reliability under conditions of temperature fluctuations exceeding 300°C.
first_indexed 2026-05-07T01:00:19Z
format Article
id oai:tkea.com.ua:article-1128
institution Technology and design in electronic equipment
keywords_txt_mv keywords
language Ukrainian
last_indexed 2026-05-07T01:00:19Z
publishDate 2004
publisher PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
record_format ojs
spelling oai:tkea.com.ua:article-11282026-05-06T11:52:10Z Study of MOSFET transistors in various hermetic surface-mount packages Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа Rubtsevitch, I. I. Anufriev, L. P. Kerentsev, A. F. MOSFET transistor metal-ceramic package surface mounting package hermeticity transistor thermal resistance MOSFET-транзистор металлокерамический корпус поверхностный монтаж герметичность корпуса тепловое сопротивление транзистора The assembly processes of MOSFET transistors in the SMD-1 metal-ceramic package were investigated in comparison with the SMD-220 metal-plastic package. Results regarding electrical and thermal parameters are presented. It is shown that the “p-n junction–package” thermal resistance is higher for SMD-1; however, the thermal conductivity consistency of the SMD-1 package components allows for the manufacture of devices with minimal internal stresses and ensures their high hermeticity and reliability under conditions of temperature fluctuations exceeding 300°C. Исследованы процессы сборки MOSFET-транзисторов в металлокерамическом корпусе SMD-1 в сравнении с металлопластиковым корпусом SMD-220. Представлены результаты по электрическим и тепловым параметрам. Показано, что тепловое сопротивление "p-n-переход – корпус" выше для SMD-1, однако согласованность по ТКЛР элементов корпуса SMD-1 позволяет изготавливать приборы с минимальными внутренними напряжениями и обеспечивать их высокую герметичность и надежность в условиях воздействия перепадов температур более 300°С. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2004-10-30 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.5.54 Technology and design in electronic equipment; No. 5 (2004): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 54-55 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5 (2004): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 54-55 3083-6549 3083-6530 uk https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.5.54/1030 Copyright (c) 2004 I. I. Rubtsevitch, L. P. Anufriev, A. F. Kerentsev http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
spellingShingle MOSFET-транзистор
металлокерамический корпус
поверхностный монтаж
герметичность корпуса
тепловое сопротивление транзистора
Rubtsevitch, I. I.
Anufriev, L. P.
Kerentsev, A. F.
Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
title Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
title_alt Study of MOSFET transistors in various hermetic surface-mount packages
title_full Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
title_fullStr Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
title_full_unstemmed Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
title_short Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
title_sort исследование mosfet-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа
topic MOSFET-транзистор
металлокерамический корпус
поверхностный монтаж
герметичность корпуса
тепловое сопротивление транзистора
topic_facet MOSFET transistor
metal-ceramic package
surface mounting
package hermeticity
transistor thermal resistance
MOSFET-транзистор
металлокерамический корпус
поверхностный монтаж
герметичность корпуса
тепловое сопротивление транзистора
url https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.5.54
work_keys_str_mv AT rubtsevitchii studyofmosfettransistorsinvarioushermeticsurfacemountpackages
AT anufrievlp studyofmosfettransistorsinvarioushermeticsurfacemountpackages
AT kerentsevaf studyofmosfettransistorsinvarioushermeticsurfacemountpackages
AT rubtsevitchii issledovaniemosfettranzistorovvrazličnyhgermetičnyhkorpusahdlâpoverhnostnogomontaža
AT anufrievlp issledovaniemosfettranzistorovvrazličnyhgermetičnyhkorpusahdlâpoverhnostnogomontaža
AT kerentsevaf issledovaniemosfettranzistorovvrazličnyhgermetičnyhkorpusahdlâpoverhnostnogomontaža