Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2019
Автори: Zabudsky, Viacheslav, Golenkov, Oleksandr, Rikhalsky, Oleg, Reva, Vladimir, Korinets , Sergij, Dukhnin, Sergey
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2019
Теми:
фотодетектори
прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням
вимірювальна система
фотоелектричні параметри
Онлайн доступ:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment
Опис
Резюме:This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024.

Схожі ресурси