Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2019
Hauptverfasser: Zabudsky, Viacheslav, Golenkov, Oleksandr, Rikhalsky, Oleg, Reva, Vladimir, Korinets , Sergij, Dukhnin, Sergey
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2019
Schlagworte:
фотодетектори
прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням
вимірювальна система
фотоелектричні параметри
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment
Beschreibung
Zusammenfassung:This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024.

Ähnliche Einträge