Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2019
Автори:	Zabudsky, Viacheslav, Golenkov, Oleksandr, Rikhalsky, Oleg, Reva, Vladimir, Korinets , Sergij, Dukhnin, Sergey
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2019
Теми:	фотодетектори прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням вимірювальна система фотоелектричні параметри
Онлайн доступ:	https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Technology and design in electronic equipment

Репозитарії

Technology and design in electronic equipment

id	oai:tkea.com.ua:article-114
record_format	ojs
spelling	oai:tkea.com.ua:article-1142025-05-30T19:26:08Z Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату Zabudsky, Viacheslav Golenkov, Oleksandr Rikhalsky, Oleg Reva, Vladimir Korinets , Sergij Dukhnin, Sergey photodetectors EMCCD electron multiplying charge-coupled device measuring system photoelectric parameters фотодетектори прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням вимірювальна система фотоелектричні параметри This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024. Прилади з зарядовим зв’язком (ПЗЗ) з електронним множенням (ЕМ) — це високочутливі детектори видимого діапазону, що були розроблені для спостереження в умовах слабкої освітленості та реєстрації одиничних фотонів і успішно використовуються у різних сферах протягом останніх двох десятиліть. Існує багато різних типів матриць, що відрізняються роздільністю, способом зчитування інформації, прямим або зворотнім засвічуванням. Велика кількість типів ПЗЗ-фотодетекторів висуває підвищені вимоги до проектування вимірювальних систем. В літературі досить часто описуються процеси проектування та тестування готових камер, але бракує інформації щодо вимірювальних систем для тестування окремих мікросхем ПЗЗ на пластині або в корпусі.В будь-якому разі вимірювальна система повинна надавати можливості для швидкого регулювання постійних і змінних напруг живлення чипу (та їхніх часових діаграм) для коректування режиму його роботи, передбачати ймовірність тестування несправних мікросхем і при цьому уникати пошкодження апаратури, а також вимірювати різноманітні параметри досліджуваних зразків. Крім цього, розвиток технологій ПЗЗ також призводить до появи нових вимог, наприклад підвищеної частоти тактових імпульсів та їхньої напруги, генерації трирівневих імпульсних сигналів. Для тестування виготовлених кремнієвих мікросхем, особливо на етапі впровадження технології виробництва, необхідне обладнання з певним ступенем універсальності та можливостей налаштування.В даній статті описано розроблену вимірювальну систему, що дозволяє досліджувати фотоелектричні параметри багатоелементних фотоприймачів, зокрема ПЗЗЕМ різних форматів. Представлено методики та результати вимірювань темнових струмів, чутливості вихідного підсилювача, ефективності передачі заряду, зарядової ємності та інших параметрів. Дослідження проводилися на зразках формату 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, 1280×1024 як на пластинах, так і в корпусах.Розроблений випробувальний стенд дозволяє проводити автоматичне або ручне відбраковування мікросхем і вимірювати фотоелектричні параметри кристалів на пластинах і в корпусі. Принцип побудови вимірювальної системи дозволяє використовувати її для дослідження матриць ПЗЗЕМ різних типів та форматів. PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2019-12-26 Article Article Peer-reviewed Article application/pdf https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03 10.15222/TKEA2019.5-6.03 Technology and design in electronic equipment; No. 5–6 (2019): Tekhnologiya i konstruirovanie v elektronnoi apparature; 3-7 Технологія та конструювання в електронній апаратурі; № 5–6 (2019): Технология и конструирование в электронной аппаратуре; 3-7 3083-6549 3083-6530 10.15222/TKEA2019.5-6 en https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03/104 Copyright (c) 2019 Zabudsky V., Golenkov O., Rikhalsky O., Reva V., Korinets S., Dukhnin S. http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
institution	Technology and design in electronic equipment
baseUrl_str
datestamp_date	2025-05-30T19:26:08Z
collection	OJS
language	English
topic	фотодетектори прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням вимірювальна система фотоелектричні параметри
spellingShingle	фотодетектори прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням вимірювальна система фотоелектричні параметри Zabudsky, Viacheslav Golenkov, Oleksandr Rikhalsky, Oleg Reva, Vladimir Korinets , Sergij Dukhnin, Sergey Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
topic_facet	photodetectors EMCCD electron multiplying charge-coupled device measuring system photoelectric parameters фотодетектори прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням вимірювальна система фотоелектричні параметри
format	Article
author	Zabudsky, Viacheslav Golenkov, Oleksandr Rikhalsky, Oleg Reva, Vladimir Korinets , Sergij Dukhnin, Sergey
author_facet	Zabudsky, Viacheslav Golenkov, Oleksandr Rikhalsky, Oleg Reva, Vladimir Korinets , Sergij Dukhnin, Sergey
author_sort	Zabudsky, Viacheslav
title	Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
title_short	Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
title_full	Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
title_fullStr	Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
title_full_unstemmed	Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
title_sort	вимірювальна система для тестування електричних параметрів пззем різного формату
title_alt	Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
description	This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024.
publisher	PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
publishDate	2019
url	https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03
work_keys_str_mv	AT zabudskyviacheslav measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT golenkovoleksandr measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT rikhalskyoleg measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT revavladimir measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT korinetssergij measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT dukhninsergey measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT zabudskyviacheslav vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu AT golenkovoleksandr vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu AT rikhalskyoleg vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu AT revavladimir vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu AT korinetssergij vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu AT dukhninsergey vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
first_indexed	2025-09-24T17:30:14Z
last_indexed	2025-09-24T17:30:14Z
_version_	1850410197130936320

Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

Репозитарії

Схожі ресурси