Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2019
Hauptverfasser: Zabudsky, Viacheslav, Golenkov, Oleksandr, Rikhalsky, Oleg, Reva, Vladimir, Korinets , Sergij, Dukhnin, Sergey
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2019
Schlagworte:
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2019.5-6.03
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Назва журналу:Technology and design in electronic equipment

Institution

Technology and design in electronic equipment