Buchumschlag

Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС

The paper discusses the experimental results of low-temperature degradation of negative TCR thermistors based on transition metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. It is established for the first time that, regardless of the chemical composition and technological features of the preparation of the stu...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технологія та конструювання в електронній апаратурі
Datum:2002
Heft:6
Сторінки:10-13
ISSN:3083-6549
Автори та афіліації:
  • V. A. Balitskaya — SPA «Karat», Lviv, Ukraine
  • N. M. Vakiv — SPA «Karat», Lviv, Ukraine
  • O. I. Shpotyuk — SPA «Karat», Lviv, Ukraine
Hauptverfasser: Balitskaya, V. A., Vakiv, N. M., Shpotyuk, O. I.
Format: Artikel
Sprache:Vietnamesisch
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2002
Schlagworte:
математическое моделирование
деградация
керамические терморезисторы
отрицательный ТКС
манганиты переходных металлов
термостарение
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2002.6.10
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment
Завантажити файл: Pdf

Institution

Technology and design in electronic equipment
Beschreibung
Zusammenfassung:The paper discusses the experimental results of low-temperature degradation of negative TCR thermistors based on transition metal manganites (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. It is established for the first time that, regardless of the chemical composition and technological features of the preparation of the studied ceramic samples, their thermal aging processes are described by the stretched exponential relaxation function of De Bast–Gillard or Williams–Watts.
ISSN:3083-6549

Ähnliche Einträge