Buchumschlag

Контролепригодные двухканальные логические схемы цифровых компараторов

Testable dual-channel logic circuits of digital comparators intended for implementation in the form of printed circuit assemblies are considered. The testable logic circuits under consideration possess the property of self-checking with respect to single and unidirectional multiple stuck-at faults i...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технологія та конструювання в електронній апаратурі
Datum:2002
Heft:4–5
Сторінки:11-12
ISSN:3083-6549
Автори та афіліації:
  • A. I. Timoshkin — Yuzhnoye Design Bureau, Dnepropetrovsk, Ukraine
1. Verfasser: Timoshkin, A. I.
Format: Artikel
Sprache:yo
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2002
Schlagworte:
цифровые компараторы
контролепригодные логические схемы
двухканальные схемы
печатные узлы
константные неисправности
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2002.4-5.11
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment
Завантажити файл: Pdf

Institution

Technology and design in electronic equipment
Beschreibung
Zusammenfassung:Testable dual-channel logic circuits of digital comparators intended for implementation in the form of printed circuit assemblies are considered. The testable logic circuits under consideration possess the property of self-checking with respect to single and unidirectional multiple stuck-at faults in the interconnections of their printed circuit assemblies.
ISSN:3083-6549

Ähnliche Einträge